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梁宏林
作品数:
12
被引量:28
H指数:3
供职机构:
昆明物理研究所
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相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
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合作作者
姚英
昆明物理研究所
朱惜辰
昆明物理研究所
蔡毅
昆明物理研究所
欧明娣
昆明物理研究所
郑为建
昆明物理研究所
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作者
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梁宏林
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1998
3篇
1997
3篇
1996
2篇
1995
2篇
1994
1篇
1989
共
12
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长波光导60元碲镉汞红外探测器通用组件
被引量:3
1996年
报道了工程化长波光导60无碲镉汞红外探测器组件研制的结果,该组件由探测器芯片、杜瓦和制冷器组成。探测器组件的主要指标达到:DB=1.7×1O10CmHz1/2/WVB=16×104V/W。组件的体积小,重量轻,并达到了国军标所规定的红外探测器高、低温实验,温度循环实验,振动实验和冲击等环境实验的要求。
朱惜辰
梁宏林
杨文运
关键词:
碲镉汞
长波光导
红外探测器
长波HgCdTe光导探测器液氮温度电阻和室温电阻比值计算
被引量:1
1997年
研究了长波HgCdTe光导探测器液氮温度电阻和室温电阻比值计算问题。结果表明:制成器件后,表面电导、材料电导率的变化和背景辐射都将使器件液氮温度的电阻减小,进行这三项修正后。
蔡毅
姚英
梁宏林
关键词:
光导探测器
碲镉汞
测温二极管及其温度特性的自动化测试
被引量:2
1989年
介绍了测温二极管的工作原理,特性,用途以及计算机控制的自动化测试系统,并给出测试结果。
梁宏林
马智玲
李凌
关键词:
二极管
温度
多元光导HgCdTe探测器均匀性的评价
被引量:1
1998年
讨论了多元光导HgCdTe线列探测器性能参数的均匀性评价问题,对器件性能的测量数据进行了分析。认为在某种探测器规范的条件限制下,多元光导HgCdTe探测器探测元的性能参数分布不满足Gauss分布,因而用标准偏差来衡量器件性能参数的均匀性是不适宜的;根据分析结果提出了一个相应的评价参数。
蔡毅
梁宏林
姚英
朱惜辰
顾伯奇
关键词:
碲镉汞
光导探测器
红外光学材料
磨抛工艺中HgCdTe晶片的表面损伤
被引量:10
1994年
用X射线反射形貌术研究了磨抛工艺在用Te溶剂法和布里奇曼法生长的碲镉汞晶片表面引入的损伤,发现精磨精抛的HgCdTe晶片表面的损伤结构与切割、粗磨造成的损伤结构明显不同。根据实验结果分析,认为机械划痕是精磨精抛过程中的主要损伤结构,并提出一个新的表面损伤模型──表面不完全损伤模型。用X射线形貌相测出了精磨精抛HgCdTe晶片表面的平均损伤和最大损伤深度。结合压痕实验,确定了机械划痕周围的晶格应变区是高密度位错增殖区;在特定条件下,测出两者之间的比值约为5。最后讨论了最大损伤深度和平均损伤深度对探测器性能的影响。
姚英
蔡毅
欧明娣
梁宏林
朱惜辰
关键词:
红外探测器
变温长波碲镉汞光电导现象研究
被引量:3
1996年
报道了n型Hg0.8Cd0.2Te光电导体的变温材料参数与性能参数的对照关系,并讨论了材料的锭条参数与小芯片霍耳参数的差异,得到一组光电导的实验优化数据.实测小芯片载流子浓度n≈1.8×1015cm-3,这与高性能器件实测值的倒推数值一致。
郑为建
朱惜辰
梁宏林
保红珍
关键词:
HGCDTE
光电子学
光导HgCdTe探测器电阻和性能的关系
被引量:2
1996年
为描述光导HgCdTe探测器低温与室温不同的导电机构,本文定义了一个易于测量的参数γ——液氮温度与室温电阻之比.实验结果表明:多数情况下。
姚英
梁宏林
关键词:
HGCDTE
光导探测器
红外探测
光导器件及其背景限探测度
被引量:2
1994年
本文就MCT光导型探测器作一总结性的讨论,对光导器件的扫出问题作了更详尽的阐述,并定义了扫出因子。关于背景限探测度提出了新的见解,认为背景限探测度不是不可逾越。
梁宏林
朱惜辰
关键词:
红外探测器
光导器件
背景辐射对光导HgCdTe探测器电阻的影响
1997年
测量了室温和液氮背景辐射条件下长波光导HgCdTe探测器的电阻,从电阻的变化研究了背景辐射对器件电阻的影响,结果表明:在高性能探测器中,室温背景辐射造成探测器电阻的相对变化量约为10%,而且。
姚英
蔡毅
梁宏林
关键词:
光导探测器
多元光导碲镉汞探测器的电串音
被引量:5
1997年
讨论了一个多元光导碲镉汞探测器电串音的物理模型,理论计算表明,探测元电串音的大小为(N-1)Re/Rb。
梁宏林
蔡毅
姚英
关键词:
碲镉汞
光导探测器
热像仪
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