您的位置: 专家智库 > >

沈瑶琼

作品数:12 被引量:6H指数:1
供职机构:上海市计量测试技术研究院更多>>
发文基金:上海市博士后基金更多>>
相关领域:电子电信机械工程理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 8篇专利
  • 4篇期刊文章

领域

  • 5篇电子电信
  • 4篇机械工程
  • 2篇理学
  • 1篇经济管理
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇光栅
  • 4篇衍射
  • 4篇光阑
  • 3篇检定
  • 2篇调节装置
  • 2篇调制
  • 2篇信号
  • 2篇衍射图
  • 2篇衍射图样
  • 2篇衍射效应
  • 2篇伸缩式
  • 2篇五角棱镜
  • 2篇膜厚
  • 2篇棱镜
  • 2篇激光
  • 2篇隔离器
  • 2篇光隔离
  • 2篇光隔离器
  • 2篇光线
  • 2篇光学

机构

  • 12篇上海市计量测...
  • 1篇天津大学
  • 1篇中国计量学院

作者

  • 12篇沈瑶琼
  • 9篇雷李华
  • 8篇傅云霞
  • 3篇曹程明
  • 2篇李源
  • 1篇王丽华
  • 1篇胡小唐
  • 1篇栗大超
  • 1篇孙薇斌
  • 1篇肖飞
  • 1篇安兆亮
  • 1篇李智玮
  • 1篇程涛
  • 1篇谢初南
  • 1篇傅星
  • 1篇卢歆

传媒

  • 2篇上海计量测试
  • 1篇自动化仪表
  • 1篇天津大学学报

年份

  • 6篇2023
  • 2篇2022
  • 1篇2018
  • 2篇2012
  • 1篇2009
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
法定计量检定机构的人力资源管理系统
2018年
0 引言上海市计量测试技术研究院是经上海市质量技术监督局授权批准设立的法定计量检定机构。机构下设电子与电气所、机械与制造所、热工与能源所、化学与电离辐射所、在线与通用所、强制检定中心、基础性能检测中心、材料质量检测中心共八个技术部门,是多门类发展、行业优势突出、计量特色鲜明的法定计量检定机构。早在2010年前,上海市计量测试技术研究院就应用了人事管理信息系统,对人员基本信息进行管理,从一定程度上满足了人员信息浏览查询和简单的统计分析工作。
李智玮沈瑶琼肖飞孙薇斌程涛金永贺
关键词:法定计量检定机构人力资源管理系统人事管理信息系统电离辐射
一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置及测量方法
本发明为一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置及测量方法,属于纳米薄膜厚度的光学测量领域。本发明装置依次为激光光源、滤光轮、光隔离器、反射镜组、起偏调制模块、样品台、检测调制模块和信号采集处理模块;所述激光光源发出激光光...
雷李华曹程明沈瑶琼管钰晴邹文哲傅云霞
MEMS三维微触觉测头的低频振动测试系统被引量:6
2009年
针对一种MEMS三维微触觉测头,构建了基于Suss Microtec三维微定位器和PI压电陶瓷的动态测试装置,对测头的动态性能进行了表征.分别测试了测头在轴向和横向负载下对不同幅度低频振动信号的响应情况,研究了测量过程的短时重复性能.结果表明,压电陶瓷位移-电压曲线的非线性误差在轴向测量模式下小于0.102%,横向测量模式下小于0.507%.
李源傅星谢初南沈瑶琼安兆亮栗大超胡小唐
关键词:振动测试微机电系统
相位测量轮廓术多频外差相位展开的相位跳变误差消除方法
本发明公开了一种相位测量轮廓术多频外差相位展开的相位跳变误差消除方法,基于多频外差原理,通过后一像素点相位幅值减去当前像素点相位幅值计算展开相位的梯度,找出展开相位中可能存在误差的可疑点,根据误差的幅值判断误差来源并确定...
邹文哲郭创为管钰晴张玉杰雷李华傅云霞沈瑶琼曹程明
一种背对式两光栅相互平行的调节装置
本实用新型为一种背对式两光栅相互平行的调节装置,用于实现两光栅栅面平行和两光栅栅线平行的调节,包括第一光栅A、第二光栅B、红光光源、接收屏、光栅安装板、小孔光阑、准直光源、分别设于光栅四个角的螺纹结构和用于光栅与光栅安装...
雷李华梁利杰张玉杰管钰晴沈瑶琼刘丽琴邹文哲郭创为傅云霞
一种用于检定两光栅平行性的装置
本实用新型为一种用于检定两光栅平行性的装置,包括同光轴布置的第一光栅、第二光栅、激光器、小孔光阑、半透半反棱镜、五角棱镜和观察屏,所述装置包括调节栅面平行和调节栅线平行两部分,利用第一光栅和第二光栅的镜面反射,通过调节第...
雷李华张玉杰沈瑶琼刘丽琴管钰晴梁利杰邹文哲郭创为傅云霞
背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置
本发明为一种背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置,包括调节两光栅栅面平行和调节两光栅栅线平行,采用的调节装置包括第一光栅A、第二光栅B、红光光源、接收屏、光栅安装板、小孔光阑、准直光源、分别设于光栅四个角的螺纹结构和...
雷李华梁利杰张玉杰管钰晴沈瑶琼刘丽琴邹文哲郭创为傅云霞
一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置
本实用新型为一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置,属于纳米薄膜厚度的光学测量领域。本实用新型装置包括激光光源、滤光轮、光隔离器、反射镜组、起偏调制模块、样品台、检测调制模块和信号采集处理模块;所述激光光源发出激光光束,...
雷李华曹程明沈瑶琼管钰晴邹文哲傅云霞
一种用于检定两光栅平行性的装置
本发明为一种用于检定两光栅平行性的装置,包括同光轴布置的第一光栅、第二光栅、激光器、小孔光阑、半透半反棱镜、五角棱镜和观察屏,所述装置包括调节栅面平行和调节栅线平行两部分,利用第一光栅和第二光栅的镜面反射,通过调节第一光...
雷李华张玉杰沈瑶琼刘丽琴管钰晴梁利杰邹文哲郭创为傅云霞
接触式干涉仪的调整和修理
2012年
0引言 接触式干涉仪是以光波干涉原理为基础,采用微差比较法测量长度的高准确度仪器。主要用于检定尺寸小于150mm的2等和2等以下的量块,也可对其他高准确度零件进行测量或作高准确度定位。在一般计量部门.接触式干涉仪较多地使用于检定和校准3、4等量块。
沈瑶琼
关键词:接触式干涉仪高准确度比较法
共2页<12>
聚类工具0