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刘世宏

作品数:19 被引量:19H指数:3
供职机构:中国科学院化学研究所更多>>
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文献类型

  • 13篇期刊文章
  • 5篇会议论文
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领域

  • 6篇理学
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  • 5篇一般工业技术
  • 2篇化学工程
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主题

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  • 4篇XPS研究
  • 4篇超导
  • 4篇超导体
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  • 3篇价态
  • 3篇XPS
  • 3篇X光电子能谱
  • 3篇成象
  • 2篇氧化物
  • 2篇光电子谱
  • 2篇光电子谱法
  • 2篇
  • 2篇
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  • 1篇蛋白
  • 1篇电结晶

机构

  • 19篇中国科学院
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作者

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传媒

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  • 1篇解剖学报
  • 1篇化学通报
  • 1篇中国科学(B...
  • 1篇化学学报
  • 1篇铀矿地质
  • 1篇第九届全国电...

年份

  • 1篇2005
  • 3篇1999
  • 1篇1998
  • 6篇1997
  • 3篇1996
  • 1篇1994
  • 1篇1993
  • 2篇1985
  • 1篇1982
19 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
铀氧化物的氧化还原行为及其价态的X-射线光电子能谱的研究被引量:4
1994年
应用X-射线光电子能谱(XPS)对铀氧化物(UO_2、UO_3、U_3O_5)的化学态及其不同价态的相对含量(U^(4+)/U^(5+))进行了研究,结果表明.常温下 UO_2:在空气中可氧化形成 UO_(2+X)UO_3易与水结合形成水合物,在高温和高真空中易脱氧,部分U^(5+)转变成U^(4+)U_3O_2.中存在U^(4+)和U^(+5)两种价态,其相对量之比为1:2.铀氧化物中U^(4+)和U^(5+)的U4f_(7/2);.结合能相差leV左右,借助于曲线拟合技术可以对铀的不同价态的相对含量进行定量分析.
刘世宏郭可珍胡玉秀王启标顾鼎祥沈珠琴
关键词:氧化物X光电子能谱
BaKPbO和BaKPbBiO的熔盐阳极电结晶被引量:1
1999年
钙钛石(ABO3)型复杂氧化物由于A位、B位在适当范围内掺杂其他离子而成为性能宽广的功能材料.例如BaPbO3及其取代物BaPbBiO是甲烷偶联反应的催化剂[1],BaPbBiO[2]和BaKBiO[3]还具有超导性.另一方面,这些复杂氧化物的功能又?..
张琳赵良仲张金彪徐翠英刘世宏
关键词:熔盐
X光电子能谱成象分析法被引量:2
1998年
简单介绍了三种X光电子能话(XIE)成象分析的原理,包括平行成象法、X射线束扫描法和南电们转板扫描法。结合实际经验,讨论了实验方法。用实例说明了XPS成象法在元素成象和化学态成象中的应用。比较了对石成象与其它成象方法的优缺点。
赵良仲刘世宏潘承璜
关键词:X光电子能谱XPS成象原理
Gd-Ba-Cu-O超导膜的XPS研究
1999年
用XPS对不同凡的Gd-Ba-Cu-O超导膜做了定量、角分布、成象和离子剥蚀纵深分析.结果表明:样品表面都存在Ba富集和Gd短缺,表面原子微观分布不均匀;表面和纵深都存在含C物质污染;与Tc≥87K的样品比较,Tc≤77K的膜表面对应于非超导相的Ba和O原子浓度最高,膜的纵深处的原子组成仍偏离化学计量,而且膜表面和纵深处的含C物污染最严重.
赵良仲王瑞兰徐洪雨李宏成刘世宏
关键词:超导膜超导体高温超导体
含铊氧化物的熔盐阳极电结晶和XPS表征
赵良仲刘世宏
关键词:催化剂乙烷氧化脱氢X光电子能谱
无金属酞菁中杂质硫的化学价态被引量:1
1997年
无金属酞菁中杂质硫的化学价态周淑琴金祥凤刘世宏(中国科学院化学研究所北京100080)作为有机光导材料的酞菁化合物在静电复印特别是激光印刷机中是重要的载流子产生材料之一[1,2],在研究酞菁双层感光膜[3]和杂质分析[4]中,发现无金属酞菁中微量杂质...
周淑琴金祥凤刘世宏
关键词:有机光导材料酞菁价态
正方平面顺二羰基(三齿N-配体)铑阳离子配合物的分子内取代反应被引量:4
1996年
报道了5种顺二羰基N,N-双(2-吡啶乙基)对取代苯胺铑(Ⅰ)正方平面配合物,经XPS,IR,NMR研究了其结构变化,结果表明,二N配位配合物在高于50℃时,由于分子内的空间效应,其结合能力较弱的N→Rh配位键可快速取代结合能力较强的Rh-Cr反馈键,而形成三N配位配合物。这一反应为可逆过程,如在CO气氛下,则其结构又回复了二-N配位状态。
袁国卿潘平来柳忠阳黄茂开刘世宏陈荣耀
关键词:配合物羰基
Dx·M(dmi—t)[*v2*]和Dx·M(dmt)[*v2*]系列新导电化合物的XPS研究
王当憨刘世宏朱道本
关键词:光电子谱法
用电化学法制备BKPO膜和PPy/BKPO复合膜
赵良仲刘世宏
关键词:含硫废水电氧化脱硫机理
粗糙表面小面积成象XPS变角分析法
1997年
提出了通过改变X射线入射角对粗糙样品表面作小面积成象X光电子能谱(XPS)分析的方法,以识别、消除或减少表面粗糙引起的遮蔽效应,获得比较真实的样品表面元素分布图。以表面粗糙的Ba-K-Bi-O超导膜为例,演示了变角分析法的应用。讨论了改变X光入射角对被分析面积的影响。
赵良仲刘世宏潘承璜
关键词:XPS
共2页<12>
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