王有亮
- 作品数：8 被引量：42H指数：4
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：广东省科技计划工业攻关项目广州市科技计划项目更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程一般工业技术更多>>
- 智能电表及其可靠性技术发展研究综述被引量：14
- 2013年
- 智能电表是构成智能电网体系中的重要基础设备,它可以实现各种用户的计量数据采集、预付费管理、分时电价和阶梯电价等用电智能化管理的功能。简要介绍了智能电表的概念与构成原理,分析了智能电表技术发展的新特点及趋势,总结了智能电表可靠性技术的国内外发展现状。
- 张卫欣解岩严晶晶李蓓王有亮
- 关键词：智能电网智能电表可靠性
- 静电放电失效特征及诊断技术研究
- 静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一.总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究电子元器件静电放电损伤的敏感结构,研究静电放电损伤的失效机理及其典型形貌特征,...
- 何胜宗梁晓思陈选龙王有亮
- 关键词：电子元器件生产过程静电放电
- 集成电路失效定位技术现状和发展趋势被引量：4
- 2020年
- 集成电路(IC)失效分析包含了不同的分析流程,但所有的步骤都是以失效定位和故障隔离作为第一步工作。失效定位指的是不断地缩小半导体器件故障范围直至可以进行破坏性物理分析的过程。根据IC的结构特点和分析思路,将整个失效分析流程中失效定位分为封装级失效定位、器件级失效定位和物理分析失效定位。通过定位技术结合案例分析的形式,重点介绍了时域反射、X射线断层扫描、扫描声学分析、锁相红外成像、光发射分析、激光激发技术和电压衬度等关键的失效定位技术原理和方法。总结了不同失效定位技术的适用范围和面临的挑战。同时,也对未来失效分析技术发展趋势进行了展望。
- 陈选龙王有亮方建明林晓玲林晓玲
- 关键词：电压衬度
- 铜丝键合塑封器件开封方法的改进研究被引量：1
- 2015年
- 通过分析塑封器件的开封过程中使用传统的化学开封方法的关键过程和制约因素,并进行了相应的改进,设计出一种将激光烧蚀和化学腐蚀相结合的铜丝键合塑封器件的开封方法;通过在不同的开封温度和浓酸配比条件下进行效果对比,总结出该方法开封铜丝器件的关键因素和推荐参数,对开封铜丝键合器件具有一定的指导作用。
- 何胜宗武慧薇王有亮
- 关键词：塑封器件激光芯片
- 三防漆及其去除技术的研究综述被引量：18
- 2014年
- 三防漆涂覆于印制线路板及其组件的表面,可以有效地保护电路免遭恶劣环境的侵蚀、破坏,从而提高并延长它们的使用寿命,确保使用的安全性和可靠性。而在电子组装的返修工艺和失效分析中,将三防漆去除干净且不对组件造成损伤是十分重要的。主要介绍了三防漆的种类与性能,并分析总结了不同种类三防漆的去除工艺方法。
- 王有亮
- 关键词：返修
- 塑料封装金属丝键合器件的开封方法
- 本发明公开了一种塑料封装金属丝键合器件的开封方法，属于电子元器件失效分析技术领域。该开封方法包括平磨、割槽、分离步骤，其中：平磨步骤中：用120-2000目的砂纸对器件进行研磨，研磨面为芯片有源面的塑封一侧，逐渐研磨去除...
- 何胜宗邝贤军王有亮武慧薇彭泽亚刘丽媛许广宁陈选龙袁光华李伟
- 文献传递
- 元器件ESD失效分析中的关键技术及其应用
- 要准确分析判断器件是否由于ESD造成的损伤或失效,在实际工程案例中通常存在几个难点:被发现的滞后性,电特性上与EOS难以区分,芯片内部的失效点难以定位,失效点的物理形貌难以判断,难以查找是哪个环节产生的静电放电损伤了器件...
- 王有亮梁晓思来萍
- 关键词：电子元器件静电放电
- 基于失效特征的静电损伤分析研究被引量：5
- 2018年
- 静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一。总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究元器件静电放电损伤的敏感结构,研究静电放电损伤的失效机理及其典型形貌特征,探讨静电损伤(ESD)、过电损伤(EOS)和缺陷诱发失效的鉴别方法。最后将这些方法应用在具体的失效案例中,为企业开展静电放电失效分析工作提供一种有效的鉴别分析方法。
- 何胜宗季启政胡凛王有亮梁晓思
- 关键词：静电放电电子元器件
