鲁永芳
- 作品数：11 被引量：12H指数：2
- 供职机构：北京师范大学核科学与技术学院低能核物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学核科学技术环境科学与工程化学工程更多>>
- 外束PIXE分析装置及其初步应用被引量：1
- 2007年
- 在GIC4117串列加速器上引出质子外束,引出窗口采用7.5μm厚Kapton膜。在外束管道前的RBS靶室中放置175nm金箔和金硅面垒探测器,可在外束PIXE分析的同时,用Au的RBS峰面积来监测束流积分。利用这一装置对古陶瓷和2幅书法作品进行分析。
- 鲁永芳王广甫
- 关键词：陶瓷书法
- 质子非卢瑟福背散射测量气溶胶样品中氢、碳、氮和氧的含量被引量：2
- 2007年
- 气溶胶样品中Z>12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量。测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析结果相近,表明PNBS可用于核孔膜采集的气溶胶样品的分析。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词：质子气溶胶H
- 外束PIXE分析方法的建立及其初步应用
- 本文在不影响RBS分析前提下，在北京师范大学GIC4117串列加速器实验室靶室后安装了外束引出管道，做外束PIXE分析。外束引出管道用有机玻璃加工而成，引出窗为7.5μm厚Kapton膜(C<,22>H<,10>O<,5...
- 鲁永芳
- 关键词：陶瓷样品书法作品
- 文献传递
- 北京师范大学外束PIXE分析装置的建立被引量：6
- 2006年
- 北京师范大学串列实验室建立了外束质子激发X荧光(PIXE)分析装置.外束引出窗口采用7.5μm厚Kapton膜.为了保护加速器系统,在外束管道中安装自己设计制作的快速真空保护阀.考虑到绝缘样品不能直接测量束流积分,在RBS靶室放置175nm金箔,并建立了金RBS峰面积和束流积分之间的关系,这样在采集外束PIXE能谱的同时,通过记录金箔RBS信号就可获得束流积分.对GBW07306水系沉积物有证标准物质进行了外束PIXE测量及定性分析,并与真空PIXE结果进行了比较.
- 鲁永芳王广甫
- 关键词：质子
- 气溶胶样品氢含量的质子弹性散射分析
- 2007年
- 利用单个标准样品比较法质子弹性散射分析（PESA）对一组采集在核孔膜上的气溶胶样品的氢含量进行定量分析。在质子束能量为2．5MeV、散射角为40°时，PESA测量10μm厚核孔膜上气溶胶中H含量的探测限为0．36μg／cm^2。几个样品H含量的测量结果在3．2～37．5μg／cm^2之间，显著高于探测限。质子能量在1．0～2．5MeV范围内，3．5／μm Mylar膜的束流归一化H峰面积随入射质子能量的变化在±3％以内。所以，不同厚度的气溶胶样品可采用同一个标准样品来进行PESA测量。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词：气溶胶探测限
- 北师大串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展
- 2007年
- 气溶胶样品中Z>12元素含量的质子X射线荧光分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补该方法不能分析H、C、N和O等轻元素之不足,我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子前角弹性散射分析和非卢瑟福背散射方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词：气溶胶
- 质子弹性散射分析方法测量mylar膜上气溶胶样品的氢含量
- 2006年
- 利用标准样品比较法质子弹性散射分析（PESA）对一组采集在mylar膜上的气溶胶样品氢含量进行了定量分析.在质子束能量2.5 MeV,散射角50°时,PESA测量5μm mylar膜上气溶胶中氢含量的探测限为0.26μg·cm^-2,几个样品氢含量的测量结果在1.9～12.7μg·cm^-2之间,大大高于探测限.
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词：气溶胶氢含量
- PESA测量中单个标准样品刻度方法适用范围研究被引量：1
- 2006年
- 用3．5μm厚Mylar膜作为标准样品，对1．4～2．5MeV范围不同能量下PESA测量刻度系数进行测量。结果在此能量范围内不同能量下平均刻度系数差别小于10％。用2．5MeV质子束，对单层，双层和三层3．5μn厚Mvlar分别进行PESA测量，它们平均刻度系数相差在3％以内。结果表明：对厚度小于9mg／cm^2气溶胶样品或2．5MeV质子穿透过程中能量损失小于1．1MeV其他样品，2．5MeVPESA测量是可以用单标准样品进行刻度。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词：刻度氢含量
- 陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究被引量：3
- 2007年
- 通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响。并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求。结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si(Li)探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下,沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品角度定位需精确到±1.2°。
- 王广甫鲁永芳
- 样品位置对外束PIXE分析的影响被引量：2
- 2008年
- 通过改变标准样品的前后位置和摆放角度,研究样品位置对外束PIXE分析中Ar、Si、Ca、Fe等元素的特征X射线归一化峰面积的影响,并以此为依据分析外束PIXE对样品定位精度的要求。结果表明:为使由样品位置变化引起的相对误差在5%以内,样品摆放位置需精确到±0.14 mm;为使由样品角度引起的相对误差在5%以内,样品摆放角度需精确到±1°。
- 鲁永芳王广甫
