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范源远

作品数：2 被引量：2H指数：1
供职机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院更多>>
发文基金：国家自然科学基金广西壮族自治区自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇时序电路
  • 2篇自动测试生成
  • 2篇量子进化
  • 2篇量子进化算法
  • 2篇进化算法
  • 1篇故障模拟

机构

  • 2篇桂林电子科技...

作者

  • 2篇范源远
  • 1篇许川佩
  • 1篇李智

传媒

  • 1篇微计算机信息

年份

  • 2篇2007
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
量子进化算法在基于故障模拟的时序电路测试生成中的应用
数字电路的测试生成问题是长期以来制约集成电路发展的难题,找到有效的数字电路测试生成方法具有非常重要的理论和现实意义。随着电路复杂性和集成度的不断提高,数字电路的测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈。尽管国内外许多...
范源远
关键词：时序电路故障模拟量子进化算法自动测试生成
文献传递
基于量子进化算法的时序电路测试生成被引量：2
2007年
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中,建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明,与同类算法相比,该算法模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。
李智范源远许川佩
关键词：量子进化算法自动测试生成时序电路
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