李少平
- 作品数：26 被引量：41H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术核科学技术更多>>
- 芯片剥层技术在集成电路失效分析中的应用
- 随着集成电路向多层结构方向的发展,对芯片进行失效分析必须解决多层结构下层的可观察性和可测试性.本文介绍了失效分析中去钝化层、金属化层和层问介质等的各种方法,包括湿法腐蚀、反应离子刻蚀和FIB刻蚀等方法,结合图例进行剥层前...
- 陈媛李少平
- 关键词：钝化层层间介质集成电路
- 文献传递
- 国产光电耦合器主要故障模式和失效机理被引量：3
- 2000年
- 通过对 6种型号 2 0多只国产光电耦合器失效样品的失效分析 ,分析研究了国产光电耦合器的
- 徐爱斌李少平欧叶芳郑廷珪
- 关键词：光电耦合器
- 阴极的共性缺陷模式及影响研究
- 本文介绍了扩散阴极的共性缺陷研究,并给出相关缺陷分析实例及其应用.结合阴极关键生产工艺流程,借鉴FMEA可靠性分析思想,建立起阴极的缺陷、缺陷危害及控制措施分析体系,成为建立缺陷半定量、定量分析准则的重要基础.体系和缺陷...
- 杨丹宋芳芳李少平张晓明
- 关键词：真空器件扩散阴极可靠性分析
- 文献传递
- 宽带大功率行波管输出烧毁及驻波变大失效机理及对策被引量：1
- 2003年
- 详细地讨论了宽带大功率行波管B-284行波管放大链末级管“输出烧毁及驻波变大”的失效机理及其纠正措施。另外还介绍了围绕实施这些纠正措施所开展的各项工艺实验及其结果。工艺实验的结果表明,纠正措施所采用的各项改进技术措施是可行有效的。
- 李少平陈三廷罗东蓉
- 关键词：功率行波管螺旋线驻波
- 基片焊接不良导致微波功率器件热烧毁被引量：2
- 2004年
- 利用声学扫描检测技术,提示了热烧毁的微波功率器件氧化铍陶瓷基片与底座金属散热片的焊接不良现象;通过对样品的研磨与剥离,验证了焊接界面存在大面积空隙的状况;分析了其失效机理,并提出了建议。
- 徐爱斌李少平
- 关键词：微波功率器件
- 核电站继电器老化及可靠性分析被引量：2
- 2006年
- 通过对LEACH继电器的老化失效及可靠性分析实验,得知1999年批次继电器失效的原因,是由于线圈绝缘材料中增塑剂氧化变质而导致的绝缘性能下降和发热量增加,并有针对性地提出了继电器老化的外壳温度监测方法,制定了批次更换措施。
- 赵昔黄卫刚陈世均张晓明李少平
- 关键词：核电站继电器可靠性
- CMOS存储器IDD频谱图形测试被引量：3
- 2004年
- 通过对 ＣＭ ＯＳ 存储器 ＩＤＤ 频谱图形测试过程的介绍，测试及试验数据证实 ＣＭ ＯＳ 存储器 ＩＤＤ 频谱图 ：形 测 试是 可行 的 。
- 李少平肖庆中
- 关键词：电源电流测试向量
- 微波器件失效分析结果统计与分析
- 本文对56例微波器件失效分析结果进行了统计和分析,得到了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布,为微波器件的生产方和使用方提供了有价值的统计数据及分析结果.
- 来萍李萍张晓明郑廷珪李少平徐爱斌施明哲牛付林何小琦
- 关键词：微波器件统计分析可靠性
- 文献传递
- CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践被引量：2
- 2002年
- 分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性，介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理，以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。
- 李少平肖庆中
- 关键词：CMOS集成电路电源电流
- 斑马纸连接电阻增大失效机理及改进效果被引量：1
- 2002年
- 对斑马纸连接电阻增大失效的机理进行了分析，并介绍了产品改进试验效果。
- 李少平张晓明罗道军王世平王勤
- 关键词：印刷电路板液晶显示器催化
