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文献类型

  • 3篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 3篇体积
  • 3篇体积分数
  • 3篇积分
  • 2篇晶片
  • 2篇光学显微镜
  • 2篇厚度检测
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶材料
  • 1篇形貌
  • 1篇损伤层
  • 1篇普通光学显微...
  • 1篇碲锌镉
  • 1篇碲锌镉晶体
  • 1篇显微镜
  • 1篇化学试剂
  • 1篇机械加工
  • 1篇减薄

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇周梅华
  • 3篇周昌鹤
  • 3篇徐超
  • 3篇杨建荣
  • 3篇虞慧娴
  • 3篇孙士文
  • 3篇王云
  • 1篇沈灏
  • 1篇陆丞

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2015
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法
本发明公开了一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法,本发明先使用体积分数为1%-5%的溴甲醇溶液,对晶片(111)B面进行10-30分钟的化学梯度减薄,获表面为斜面的样品。再使用Everson腐蚀液揭示晶体的缺陷,在100倍...
虞慧娴孙士文杨建荣周昌鹤徐超周梅华王云
一种快速揭示碲锌镉晶体各类缺陷的方法
本发明公开了一种快速揭示碲锌镉晶体各类缺陷的方法,该方法先使用体积分数为3%-5%的溴甲醇溶液,对单晶材料(111)B面进行30-60分钟的化学减薄,去除材料加工损伤层,获得表面光亮平整的样品。再使用Everson腐蚀液...
虞慧娴沈灏王云陆丞周梅华孙士文杨建荣周昌鹤徐超
文献传递
一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法
本发明公开了一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法,本发明先使用体积分数为1%‑5%的溴甲醇溶液,对晶片(111)B面进行10‑30分钟的化学梯度减薄,获表面为斜面的样品。再使用Everson腐蚀液揭示晶体的缺陷,在100倍...
虞慧娴孙士文杨建荣周昌鹤徐超周梅华王云
文献传递
共1页<1>
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