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王彦硕

作品数:3 被引量:4H指数:1
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇氮化镓
  • 1篇电子束
  • 1篇电子束蒸发
  • 1篇电阻
  • 1篇隐形
  • 1篇阵列
  • 1篇势垒
  • 1篇碳化硅
  • 1篇碳化硅衬底
  • 1篇欧姆接触
  • 1篇挖槽
  • 1篇肖特基
  • 1篇肖特基势垒
  • 1篇接触电阻
  • 1篇划痕
  • 1篇划片
  • 1篇激光
  • 1篇激光划片
  • 1篇硅衬底
  • 1篇N型

机构

  • 3篇南京电子器件...

作者

  • 3篇王彦硕
  • 2篇黄念宁
  • 2篇高建峰
  • 2篇林罡
  • 2篇邹鹏辉
  • 1篇陈堂胜
  • 1篇徐筱乐
  • 1篇韩克锋
  • 1篇贾洁
  • 1篇蔡立康

传媒

  • 3篇固体电子学研...

年份

  • 2篇2017
  • 1篇2015
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
SiC基GaN激光划片工艺研究被引量:1
2017年
介绍了一种SiC基GaN激光划片工艺。通过对划痕形貌、裂片效果、热效应和装配适应性四方面的分析,在几种氮化镓激光划片试验中优化得出高质量划切工艺,并通过小批量生产证明新工艺在良率、效率方面有一定的优势。
王彦硕邹鹏辉贾洁林罡高建峰陈堂胜
关键词:碳化硅衬底激光划片划痕
源漏区域孔阵列挖槽对氮化镓n型欧姆接触的影响
2017年
采用源漏区域孔阵列挖槽的方法降低氮化镓n型欧姆接触的合金温度,并改善合金后金属形貌。相对于非源漏区域孔阵列挖槽的氮化镓n型欧姆接触合金,合金温度可降低40℃,合金后源漏金属形貌尤其是金属侧边形貌显著改善,这对于提高相关器件及电路性能、成品率及可靠性很有好处。
黄念宁韩克锋蔡立康王彦硕
关键词:接触电阻
电子束蒸发速率对Ti/GaAs肖特基势垒特性的影响被引量:3
2015年
通过在不同的速率下蒸发相同厚度的Ti金属薄膜,研究电子束蒸发速率对Ti膜表面形貌和性能的影响。试验表明随着Ti蒸发速率的提高,薄膜表面没有明显差别,但薄膜的结构变得致密,相同厚度下金属薄膜方阻变小,Ti金属间结合更紧密。同时在研究中发现不同速率蒸发的Ti膜能在一定范围内影响GaAs器件势垒高度,可以在同等条件下通过Ti蒸发速率调整来获得合适的肖特基势垒,因此Ti蒸发速率是制作GaAs器件肖特基势垒的关键因素之一。
邹鹏辉黄念宁王彦硕高建峰林罡徐筱乐
关键词:电子束蒸发肖特基势垒
共1页<1>
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