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赵元力
作品数:
6
被引量:4
H指数:1
供职机构:
电子科技大学
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发文基金:
长江学者和创新团队发展计划
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相关领域:
自动化与计算机技术
理学
机械工程
电子电信
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合作作者
耿勇
电子科技大学
邱昆
电子科技大学
武保剑
电子科技大学
文峰
电子科技大学
周恒
电子科技大学
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机构
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电子科技大学
作者
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赵元力
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武保剑
5篇
邱昆
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耿勇
4篇
文峰
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周恒
传媒
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光学学报
年份
1篇
2018
1篇
2017
2篇
2016
2篇
2015
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6
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一种微环芯片电控特性的自动测试装置
本发明属于光通信技术领域,提供一种微环芯片电控特性的自动测试装置,该装置包括自动测试分析平台、芯片控制器、扫描激光器、光电转换模块以及切换开关组,在自动测试分析平台的控制下,芯片控制器调节待测微环芯片的工作状态,进而扫描...
武保剑
赵元力
耿勇
廖明乐
文峰
周恒
邱昆
文献传递
一种测试光交换芯片模块性能的方法
本发明属于光通信技术领域,提供一种测试光交换芯片模块性能的方法。本发明通过测量光交换芯片模块输入端口到输出端口的频谱传输特性,分别获取“单端口输入”和“多端口输入”状态下光交换芯片模块的频谱眼图,计算出光功率增益或消光比...
赵元力
武保剑
廖明乐
耿勇
周星宇
文峰
邱昆
文献传递
硅基光交换芯片设计与性能评估
光交换节点是全光通信网络的核心单元之一,高速光交换集成芯片的研制推动了光交换节点技术的发展,其中硅基光交换芯片的制作工艺与传统COMS工艺完全兼容,易于实现单片集成,成为该领域的研究热点。本文对4×4光交换芯片模块进行了...
赵元力
关键词:
插入损耗
优化设计
一种微环芯片电控特性的自动测试装置
本发明属于光通信技术领域,提供一种微环芯片电控特性的自动测试装置,该装置包括自动测试分析平台、芯片控制器、扫描激光器、光电转换模块以及切换开关组,在自动测试分析平台的控制下,芯片控制器调节待测微环芯片的工作状态,进而扫描...
武保剑
赵元力
耿勇
廖明乐
文峰
周恒
邱昆
光交换芯片的串扰分析与DQPSK信号传输实验
被引量:4
2016年
串扰和插入损耗是表征光交换芯片传输性能的重要参数。将串扰与插入损耗特性结合起来,提出一种分析光交换集成芯片串扰的理论模型,考虑了串扰对开关路由的依赖性。实验测量了基于马赫-曾德尔干涉仪(MZI)的4×4拜尼兹结构的光交换集成芯片的串扰和插入损耗系数,以及不同开关路由状态下40 Gb/s差分四相相移键控(DQPSK)信号的传输性能,实验结果与理论分析基本一致。根据测得的串扰和插入损耗系数,计算了16×16光交换芯片串扰范围。
赵元力
武保剑
廖明乐
耿勇
邱昆
关键词:
光通信
光开关阵列
串扰
插入损耗
一种测试光交换芯片模块性能的方法
本发明属于光通信技术领域,提供一种测试光交换芯片模块性能的方法。本发明通过测量光交换芯片模块输入端口到输出端口的频谱传输特性,分别获取“单端口输入”和“多端口输入”状态下光交换芯片模块的频谱眼图,计算出光功率增益或消光比...
赵元力
武保剑
廖明乐
耿勇
周星宇
文峰
邱昆
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