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谢淑芬
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1
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供职机构:
机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
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合作作者
刘丹
机械工业仪器仪表综合技术经济研...
刘敏
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闫晓风
机械工业仪器仪表综合技术经济研...
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闫晓风
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刘敏
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谢淑芬
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1篇
2016
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一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统
本发明公开了一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统,该系统包括:测试电路板,电流探头,阻抗转换网络以及放大器和频谱仪,其特征在于,该系统的测试对象为CMC芯片,通过测试射频电流和射频电压,进而得出芯片整体的辐...
刘敏
闫晓风
刘丹
谢淑芬
赵艳领
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