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刘静

作品数:1 被引量:3H指数:1
供职机构:北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇真空
  • 1篇散热
  • 1篇热分析
  • 1篇热设计
  • 1篇可靠性
  • 1篇功率VDMO...

机构

  • 1篇北京工业大学

作者

  • 1篇丁凯凯
  • 1篇冯士维
  • 1篇郭春生
  • 1篇刘静

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2011
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
大气与真空下功率VDMOS散热特性研究被引量:3
2011年
针对功率VDMOS真空下壳温显著升高的问题,对安装叉指形散热器的功率VDMOS进行了三维建模和温度场模拟分析,研究了其在大气与真空环境下的散热模型。真空环境下功率为10 W、散热片面积为278.42 cm2时,VDMOS壳温较大气下升高了89.8℃。找出了VDMOS大气及真空下壳温与工作功率及散热器表面积之间存在的关系,并进行了相应实验,利用公式计算出的器件壳温与实验壳温的最大差值,大气下不超过2℃、真空下不超过3℃,皆未超过5%,该公式可以作为功率VDMOS应用及热设计的参考依据。分析了真空环境下,功率VDMOS壳温显著升高的原因,并提出了改善措施。
丁凯凯冯士维郭春生刘静
关键词:热分析功率VDMOS真空可靠性热设计
共1页<1>
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