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吴世霞

作品数:7 被引量:4H指数:2
供职机构:西安工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金陕西省教育厅科研计划项目更多>>
相关领域:机械工程电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇会议论文
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇专利

领域

  • 3篇机械工程
  • 2篇电子电信

主题

  • 6篇子孔径
  • 6篇子孔径拼接
  • 6篇光学
  • 3篇全局优化
  • 3篇光学测量
  • 3篇光学元件
  • 3篇大口径
  • 3篇大口径光学元...
  • 1篇调校
  • 1篇优化算法
  • 1篇直角棱镜
  • 1篇摄像系统
  • 1篇抛物面
  • 1篇全局优化算法
  • 1篇误差分析
  • 1篇相移
  • 1篇面形
  • 1篇面形检测
  • 1篇棱镜
  • 1篇测量系统

机构

  • 7篇西安工业大学

作者

  • 7篇吴世霞
  • 5篇刘丙才
  • 5篇田爱玲
  • 1篇朱学亮
  • 1篇王红军
  • 1篇王春慧
  • 1篇郑显锋

传媒

  • 1篇光子学报
  • 1篇应用光学
  • 1篇2012年西...
  • 1篇2013年(...

年份

  • 5篇2013
  • 2篇2012
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
一种大口径抛物面测量系统
本发明涉及一种大口径抛物面测量系统。以克服现有技术存在的成本高、CCD分辨率不能达到测量要求使得测量精度受到限制等问题。本发明可旋转的被测大口径抛物面、镜头、第一分束立方棱镜、第二分束立方棱镜、剪切立方棱镜、遮挡平板和剪...
田爱玲王红军刘丙才郑显锋王春慧朱学亮吴世霞
文献传递
大口径平面检测的子孔径拼接算法研究
随着现代光学技术的发展,大口径光学元件以其优越的光学特性广泛应用于天文研究、空间探索和激光惯性约束聚变(ICF)等大型装备的光学系统中,由于光学表面加工精度受到面形检测精度的限制,而现有的检测技术已不能满足其大口径、高精...
吴世霞
关键词:子孔径拼接大口径光学元件误差分析
文献传递
子孔径拼接中系统误差的修正方法被引量:2
2013年
为了提高大口径光学元件子孔径拼接测量的检测精度,提出一种平面绝对测量技术,修正子孔径拼接过程中产生的系统误差。利用改进的三面互检法获得参考平面的面形数据,采用这些测量数据构建基于Zernike多项式的参考面面形误差修正波面,在拼接过程中运用误差修正波面对获得的子孔径测量数据进行实时修正,并与全口径直接测量结果进行对比,结果 PV(peak value,PV,峰谷值)误差从0.072 1λ减少到0.028 6λ。结果表明该方法有效减少了参考平面系统误差对拼接测量精度的影响,提高了大口径光学元件的检测精度。
吴世霞田爱玲刘丙才张鹏飞
关键词:光学测量子孔径拼接
基于权重的子孔径拼接优化算法研究被引量:2
2013年
为了提高大口径光学元件面形拼接检测准确度,减少传统子孔径拼接算法带来的误差传递和积累,并在原有全局优化拼接算法的基础上引入权重系数,使全口径内各相邻子孔径之间的重叠区域达到最优匹配,使拼接误差最小化.利用该优化算法对平面进行了多孔径拼接仿真模拟,在此基础上对150mm口径的平面镜进行了实验,并提出基于图像边缘轮廓特征提取的子孔径定位新方法,分析了影响拼接误差的因素.仿真和实验结果均证明了基于权重的全局优化拼接算法的有效性和可行性.
田爱玲吴世霞刘丙才张鹏飞
关键词:子孔径拼接全局优化算法大口径光学元件
子孔径全局优化平面拼接算法的研究
大口径光学元件在航空、航天领域发挥着日益重要的作用,常用的平面面形检测方法已经不能适应大口径光学元件面形检测的要求,针对这一问题提出了子孔径拼接检测技术。这种技术的关键在于拼接算法,传统的子孔径拼接算法是两两拼接算法的不...
田爱玲吴世霞刘丙才
关键词:大口径光学元件子孔径拼接面形检测
子孔径拼接中系统误差的修正方法
为了提高大口径光学元件子孔径拼接测量的检测精度,提出了一种简单、实效的平面绝对测量技术来修正子孔径拼接过程中产生的系统误差,首先利用改进的三面互检法获得参考平面的面形数据,利用这些测量数据构建基于zernike多项式的参...
吴世霞田爱玲刘丙才张鹏飞
关键词:光学测量子孔径拼接
文献传递
子孔拼接中系统误差的修正方法
为了提高大口径光学元件子孔径拼接测量的检测精度,提出了一种简单、实效的平面绝对测量技术来修正子孔径拼接过程中产生的系统误差,首先利用改进的三面互检法获得参考平面的面形数据,利用这些测量数据构建基于zernike多项式的参...
吴世霞田爱玲刘丙才张鹏飞
关键词:光学测量子孔径拼接
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