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石雪梅

作品数:3 被引量:13H指数:2
供职机构:中国航天科工集团公司更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇存储器
  • 2篇存储器测试
  • 1篇扫描测试
  • 1篇边界扫描测试
  • 1篇边界扫描测试...
  • 1篇FLASH存...
  • 1篇FLASH存...
  • 1篇FPGA测试
  • 1篇测试技术
  • 1篇大容量

机构

  • 3篇中国航天科工...

作者

  • 3篇杨士宁
  • 3篇石雪梅
  • 2篇罗晶
  • 1篇张虹
  • 1篇张碚
  • 1篇顾颖
  • 1篇李盛杰

传媒

  • 2篇计算机与数字...
  • 1篇电子测量技术

年份

  • 3篇2017
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于大容量FLASH存储器的FPGA重构系统的设计与实现被引量:8
2017年
随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛。传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPGA重构方案由于存储配置时间长,配置芯片成本高等原因越来越满足不了快速的多重配置需求。提出了一种基于大容量FLASH存储器的FPGA重构技术,方案采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,可以实现绝大部分不同型号的FPGA器件的快速多重重构,从而满足FPGA芯片快速自动测试需求,提高了整体程序开发和测试效率,节约了芯片的测试成本。
杨士宁张虹李盛杰石雪梅张碚
关键词:FLASH存储器FPGA测试
存储器测试图形算法概述被引量:3
2017年
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。
罗晶杨士宁石雪梅
关键词:存储器测试
边界扫描测试技术在存储器测试中的应用被引量:2
2017年
边界扫描测试技术是一种基于集成电路可测性设计的测试技术,通过对集成电路内部测试寄存器输出响应的分析完成电路系统的测试及故障诊断。它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测试的接口,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合Xilinx公司可编程器件用配置存储器XCF系列芯片的进行基于边界扫描测试技术的测试方案设计。
杨士宁顾颖石雪梅罗晶
关键词:边界扫描测试存储器测试
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