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李威

作品数:78 被引量:157H指数:7
供职机构:电子科技大学光电信息学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室更多>>
发文基金:电子薄膜与集成器件国家重点实验室基础研究开放创新基金国家自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术理学文化科学更多>>

文献类型

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作者

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传媒

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年份

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  • 1篇2016
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  • 3篇2014
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  • 7篇2012
  • 7篇2011
  • 8篇2010
  • 6篇2009
  • 8篇2008
  • 4篇2007
  • 10篇2006
  • 2篇2005
  • 1篇2004
78 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法被引量:10
2009年
针对传统的基于纯硬件平台的FPGA芯片测试方法所存在的种种问题,提出并验证了一种基于软硬件协同技术的FPGA芯片测试方法。该方法引入了软件的灵活性与可观测性等软件技术优势,具有存储深度大、可测I/O管脚数目多、自动完成配置下载(不需人工干预)和自动定位FPGA中的错误等优点,提高了FPGA的测试速度和可靠性,并降低了测试成本,与传统的自动测试仪(ATE)相比有较高的性价比。采用软硬件协同方式针对Xilinx4010的I/O单元进行了测试,实现了对FPGA芯片的自动反复配置、测试和错误定位。
李平廖永波阮爱武李威李文昌
关键词:软硬件协同片上系统
SOC软硬件协同仿效系统的通讯协议设计被引量:1
2010年
通过对EDA软件仿真器与硬件加速平台的数据传输和信息交换方式的研究,提出并实现了SOC软硬件协同仿效系统的通讯协议。该协议实现了逻辑通道复用技术及端口号寻址的数据传输功能。对基于该协议的SOC软硬件协同仿效系统进行测试试验,结果表明,该协议实现了EDA软件仿真器与硬件加速平台之间数据实时、准确的交换,达到了EDA软件仿真器与硬件加速平台协同仿效的目的。
廖永波李平阮爱武李威李文昌李辉
关键词:软件仿真器SOC通讯协议
一种新颖的FPGA逻辑故障测试定位方法被引量:2
2011年
FPGA的生产测试是FPGA设计中非常重要的环节,不仅要求能够检测芯片是否发生故障,还必须进行精确的故障定位,以便设计人员对设计故障和工艺故障进行改进。依靠将CLB输出级联的方式进行故障定位,往往使测试激励在时序设计上变得更加复杂。灵活利用CLB周围的三态门资源,可以对FPGA逻辑故障进行快速准确的定位,且测试激励简洁。
李文昌李平杨志明阮爱武廖永波李威
关键词:FPGA故障定位
一种反熔丝FPGA应用设计故障被引量:1
2018年
由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.
杜涛许百川李威晁醒吴方明
关键词:时钟偏斜
一款精准低噪声运算放大器输入级的优化设计被引量:3
2019年
基于4μm 40 V互补双极工艺,设计了一款精准、低噪声、轨到轨输入输出运算放大器。电路采用轨到轨互补输入级,并在此基础上采用了一种新型的低噪声偏置电流补偿电路,该结构的电流噪声与运算放大器输入双极晶体管的电流噪声为相关噪声,同时该电路还可大幅降低运算放大器的输入偏置电流,减小源电阻噪声对电路的不良影响,从而确保运算放大器具有极低的等效输入电压噪声和电流噪声。测试结果表明,利用该结构设计的轨到轨输入输出运算放大器,其带宽为5.05 MHz,大信号低频增益为136.2 dB,输入偏置电流仅为29.8 nA,输入失调电流为11.9 nA,输入失调电压为188μV,输入电压噪声密度为■、共模抑制比(CMRR)为121.6 dB,电源抑制比(PSRR)高达117.3 dB。
王靖郭廷李威
关键词:输入失调电压电压噪声
一种用于TRIAC导通角测量的时钟振荡电路
2015年
基于0.5μm BCD工艺,设计了一种频率可调的时钟振荡器。通过环路控制,该振荡器的频率可以跟随输入线电压频率的变化,二者之间满足定量关系。在TRIAC调光的LED驱动芯片中,随输入线电压频率变化的振荡器能够为导通角测量技术提供可靠的基础时钟。HSPICE仿真结果表明,输入线电压在50~60Hz范围内变化时,振荡器的频率可有效跟随其变化,误差小于2%。
周英娜郭宝明冯玲玲李威
关键词:时钟振荡器频率可调
基于CF_4/Ar高密度感应耦合等离子体的BZN薄膜的刻蚀工艺研究被引量:1
2012年
使用CF4/Ar高密度感应耦合等离子体(ICP)对磁控溅射法制得的铌酸锌铋(BZN)薄膜进行了干法刻蚀工艺研究。分析了BZN薄膜的刻蚀速率随工艺气体流量比、总流量和工作压强的改变而出现极大值的原因,展示了BZN薄膜的刻蚀速率随ICP功率的增大而线性增加的趋势。研究结果表明,使用CF4/Ar感应耦合等离子体对BZN薄膜进行刻蚀的机理为物理辅助的化学反应刻蚀。BZN薄膜的最佳刻蚀工艺参数为CF4/Ar流量比3/2、总流量25sccm、工作压强1.33Pa、ICP功率800W,使用此参数对BZN薄膜进行刻蚀,最大刻蚀速率为26nm/min,刻蚀后薄膜边缘齐整、表面光滑、形状完整。
王刚李威李平李祖雄范雪姜晶
关键词:感应耦合等离子体干法刻蚀刻蚀速率表面形貌
一种原边控制恒流LED驱动电路设计被引量:2
2015年
提出了一种应用于LED照明的原边控制电路,通过控制变压器初级峰值电流与tDIS/TS(占空比)的乘积为一个常数,从而实现平均输出电流恒流;通过检测电压谷底来开启原边功率管,大大减小了导通开关损耗。仿真结果表明,该电路成功实现了平均输出电流的恒流控制,效率为93.3%,说明驱动反激变换器工作在准谐振模式有较高的转换效率。
廖天澄王程左李威
关键词:LED照明功率
一种用于开关电源的新型模拟调光电路被引量:1
2015年
设计了一种用于LED驱动电源的模拟调光电路。该调光电路由外部控制产生一个占空比可调的振荡信号来线性改变恒流的基准电压;基准电压的改变会产生对功率管开关信号(PWM)占空比的调节,从而实现LED电源输出电流的线性调节。基于TSMC_0.5μm BCD工艺,用Hspice进行仿真,结果表明:这种线性调光电路能精确控制流过负载LED的电流,实现对LED灯的线性调光。
冯玲玲周英娜郭宝明李威
关键词:振荡器
现场可编程门阵列单粒子效应测试方法
现场可编程门阵列单粒子效应测试方法,涉及集成电路技术。本发明包括下述步骤:1)去除FPGA封装外壳,将其安装在测试电路板上;2)配置FPGA,然后回读SRAM数据并记录;3)将测试电路板置于测试室内,粒子源发射单粒子轰击...
李威黄国辉杨志明孙振维郑博文
文献传递
共8页<12345678>
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