蔡金宝
- 作品数：3 被引量：8H指数：2
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信经济管理更多>>
- 离子色谱在元器件腐蚀失效分析中的应用研究被引量：2
- 2022年
- 电子元器件在应用过程中经常出现污染腐蚀失效。因此,查找引起失效的污染和腐蚀源是分析技术的关键。通过几种不同类别电子产品失效分析案例,研究了离子色谱检测在板面残留、工艺辅料、产品包封料、环境异物中污染腐蚀源的检验和分析方法,并与传统的形貌观察、绝缘阻抗测试、EDS成分分析、红外光谱分析的结果进行综合对比和验证。明确了离子色谱检验方法在电子元器件腐蚀失效分析中的应用场景、取样方法和结果分析方法,为离子色谱在电子元器件腐蚀失效预防中的工程应用提供指导和借鉴。
- 石延辉蔡金宝甘卿忠何胜宗牛峥
- 关键词：电子元器件离子色谱离子污染
- PEM/OBIRCH用于集成电路漏电流失效定位被引量：6
- 2015年
- 漏电流增大是集成电路的主要失效表现,通过光发射显微镜(PEM)和光束感生电阻变化(OBIRCH)技术互补地结合使用,对集成电路中常见的PN结漏电、介质层绝缘性降低、间接漏电流失效和芯片的背面分析案例进行研究,分析由过电应力、金属化桥连、静电放电损伤导致漏电的定位特性。得出以下结论:根据光发射显微镜得到的缺陷形貌和位置可以断定是否为原始失效或间接失效,结合电路分析进而可以解释发光的原因;OBIRCH对原始缺陷的定位更为准确,多层结构的背面OBIRCH分析更有优势。
- 陈选龙陈航刘丽媛蔡金宝
- 关键词：集成电路漏电
- 一种基于质量规格书的物料管控方法
- 2017年
- 首先,对传统的物料管控方法进行了总结和分析;然后,提出一种基于质量规格书的物料管控方法;最后,给出了该方法中质量规格书的具体内容。该方法既保障了元器件的固有可靠性,又可以免去使用单位的来料检测实验,是一种简便、有效的物料管控方法。
- 赵昊蔡金宝莫富尧赵振博傅小敏
