您的位置： 专家智库 > >

徐海涛

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：华润上华科技股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇数据保持
  • 1篇嵌入式
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性评估
  • 1篇激活能
  • 1篇EPROM
  • 1篇存储器

机构

  • 1篇苏州大学
  • 1篇华润上华科技...

作者

  • 1篇徐海涛
  • 1篇王智勇

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
嵌入式EPROM数据保持能力评估方法优化被引量：1
2011年
高温加速老化测试是半导体存储器产品可靠性评估必经的步骤。其中产品失效激活能的确定对数据保持能力研究有重要意义,它决定了老化可靠性评估的原则。文章首先介绍了可靠性评估原则的确定方法,然后在不同的温度下进行老化测试,利用数据规一划方法确定了相关重要数据,最后给出了在工艺稳定后的活化能和量产时的数据保持能力测试前烘烤的温度和时间。
徐海涛王智勇
关键词：存储器可靠性评估激活能
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0