徐政
- 作品数：2 被引量：0H指数：0
- 供职机构：中国电子科技集团公司更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- S波段100W硅LDMOS功率芯片鲁棒性的提高方法
- 通过对功率管损坏机理进行分析，得出器件损坏的主要原因是LDMOS管的电流集中在硅表面，造成局部温度过高;使用优化漏结，把电流引入体内的方法解决了电流集中在硅表面的问题，提高了功率芯片的鲁棒性。使用优化漏结的功率芯片，做完...
- 徐政王涛赵文彬
- 关键词：横向扩散金属氧化物半导体功率芯片鲁棒性电流控制
- 文献传递
- WLR测试技术——一种正被广泛采用的可靠性测试技术
- 2003年
- 传统的可靠性测试是后道进行的,它是对整个电路芯片进行老炼加速实验,这种方法费时费力,并且不能为工艺提供及时的指导,因此它使新工艺的开发周期延长。随着器件尺寸不断变小,出现了许多新的可靠性问题,器件的可靠性变得越来越重要。采用WLR测试能够减少可靠性的测试时间,缩短工艺开发周期,抢占新品上市时间。因此,这种测试方法越来越得到广泛的应用,本文讨论WLR测试的几个方面以及提供一些测试算法。
- 郑若成徐政
- 关键词：可靠性应力自加热
