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张剑东
张剑东
作品数:
1
被引量:2
H指数:1
供职机构:
苏州大学
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
理学
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合作作者
吴伟
苏州大学
朱志鹏
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吴伟
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材料科学与工...
年份
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2017
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射频输入功率对DLC∶F∶Si薄膜结构和附着特性的调制机理
被引量:2
2017年
以SiC陶瓷靶为靶材,Ar和CHF_3为源气体,采用反应磁控溅射法在双面抛光的316L不锈钢基片上制备出了系列Si和F共掺杂的DLC∶F∶Si薄膜。研究了射频输入功率对薄膜的附着力、硬度和表面接触角的影响。结果表明,选取适当的输入功率(180W左右)可以制备出附着力达11N的DLC∶F∶Si薄膜。通过拉曼和红外光谱分析以及样品粗糙度分析,作者提出了输入功率对DLC∶F∶Si薄膜结构和特性调制的机理,即输入功率直接影响SiC靶的溅射产额、空间Ar^+的能量以及CHF_3的分解程度,继而影响空间Si、C、-CF、-CF_2,特别是F~*等基团的能量和浓度,调制薄膜中F含量以及Si-C键含量和C网络的关联度。Si-C、C=C键的增加有助于薄膜附着力的明显改善,F含量的减少则会导致薄膜的疏水性能有所下降。
吴伟
朱志鹏
张剑东
闵嘉炜
江美福
钱侬
关键词:
射频反应磁控溅射
共掺杂
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