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万颖

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：华润上华科技股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇元件
  • 1篇静电放电
  • 1篇保护元件
  • 1篇E^2PRO...
  • 1篇ESD保护
  • 1篇ESD保护电...

机构

  • 1篇华润上华科技...

作者

  • 1篇万颖

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
E^2PROM工艺的ESD保护电路失效分析被引量：1
2008年
ESD保护电路已经成为集成电路不可或缺的组成部分,如何避免由ESD应力导致的保护电路的击穿已经成为CMOSIC设计过程中一个棘手的问题。光发射显微镜利用了IC芯片失效点所产生的显微红外发光现象可以对失效部位进行定位,结合版图分析以及微分析技术,如扫描电子显微镜SEM、微红外发光显示设备EMMI等的应用可以揭示ESD保护电路的失效原因及机理。文章通过对一组击穿失效的E2PROM工艺的ESD保护电路实际案例的分析和研究,介绍了几种分析工具,并且在ESD失效机制的基础上,提出了改进ESD保护电路的设计途径。
易峰万颖
关键词：静电放电保护元件
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