邓世杰
- 作品数:13 被引量:12H指数:3
- 供职机构:西南技术物理研究所更多>>
- 发文基金:四川省科技计划项目更多>>
- 相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统
- 本发明属于光电探测技术领域,具体涉及一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。该系统采用窄脉冲半导体激光器光源,相比于外场成像试验用的大功率固体激光器,其体积小,功率低,成本低,输出光功率可调,是实现目标...
- 孔繁林柯尊贵周小燕钱煜袁鎏郝昕邓世杰梁晨宇袁菲黄海华路小龙
- 一种近红外增强型硅基雪崩光电二极管制备方法
- 本发明公开了一种近红外增强型硅基雪崩光电二极管制备方法,选用P型高阻单晶硅衬底,高温推结形成隔离环与活性区;高温推结后形成主结区;完成正面钝化层与正面金属电极区制备;通过湿法电化学腐蚀在所述衬底背面形成具有倒金字塔阵列形...
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- 带方差补偿的多向仿射变换点云配准算法被引量:3
- 2019年
- 结合点云统计学特性和形状特征,提出了带方差补偿的多向仿射变换点云配准算法,将求解放缩因子问题转化为求解带方差的超定非线性方程组,并通过二次曲面拟合对噪声方差进行最小二乘无偏估计。引入点云全局向量特征相似度,以相似度最大化求真解。将多向仿射变换点云配准转化为刚性配准,并利用主方向法配准点云。仿真结果表明,针对点云随机丢失和带噪声的点云配准情况,所提算法比现有配准算法的配准精度更高,并且配准耗时更短。
- 王畅舒勤杨赟秀邓世杰
- 关键词:点云配准NEWTON迭代法最小二乘法二次曲面
- 基于InGaAs盖革模式APD探测器的主动淬灭电路设计被引量:3
- 2019年
- 盖革模式(GM)雪崩光电二极管(APD)探测器具有单光子级探测灵敏度,可广泛用于三维成像和测量测绘等领域。针对InGaAs基GM-APD,提出一种用于自由模式探测的主动淬灭电路。该电路采用电容积分方式将雪崩电流转换为电压信号,利用反相器对其进行检测与提取,同时经淬灭支路将雪崩快速淬灭,一定延时后恢复支路使APD重新进入盖革状态;采用施密特触发器以增强淬灭支路的抗干扰能力,防止盖革恢复过程中导致淬灭控制信号的振荡;利用RC延迟电路实现探测器死时间可调。基于SMIC 0.18μm标准CMOS工艺对设计的主动淬灭电路进行了流片,电路芯片与GM-APD互连测试结果表明,该电路可实现对GM-APD的快速淬灭与恢复,淬灭时间约为887 ps,恢复时间约为325 ps,最小死时间约为29.8 ns,满足多回波探测应用要求。
- 杨赟秀袁菲路小龙景立邓世杰呙长冬宋海智张伟
- 关键词:INGAAS单光子
- 公共极进光半导体光电二极管阵列芯片测试用工装夹具
- 本发明公开了一种公共极进光半导体光电二极管阵列芯片测试用工装夹具,包括:水平底座、积分球、方形固定架、玻璃板;方形固定架设置在水平底座上,方形固定架内部放置积分球;方形固定架顶部开宽槽,宽槽内中心开圆孔,圆孔与积分球出光...
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- 文献传递
- 一种背光半导体光电类芯片
- 本实用新型属于半导体光电类芯领域,具体涉及一种背光半导体光电类芯片,所述背光半导体光电类芯片包括垫片、芯片、背电极、导电银胶和引线;垫片中心处设有通孔;在通孔侧壁以及垫片一侧上下两面设有导通的金层作为引线框架;芯片通过树...
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- 文献传递
- 一种背光半导体光电类芯片及其互连方法
- 本发明属于半导体光电类芯领域,具体涉及一种背光半导体光电类芯片及其互连方法,所述背光半导体光电类芯片包括垫片、芯片、背电极、导电银胶和引线;垫片中心处设有通孔;在通孔侧壁以及垫片一侧上下两面设有导通的金层作为引线框架;芯...
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- 文献传递
- 532nm硅基单光子雪崩管制备及其电压调控效应
- 2024年
- 硅基单光子雪崩管具备体积小、功耗低、暗计数低、可见光波段量子效率高、探测灵敏度达单光子量级等优势,在交通、医疗和军事等领域有重要应用前景.然而,平面结构硅基单光子雪崩管的暗计数率和可见光-近红外波段单光子探测率仍需提升,掺杂工艺对器件电学特性影响仍较模糊.本文设计并制备了一款可见光-近红外波段具备单光子级探测能力的硅基盖革模式雪崩二极管,雪崩电压为38.1 V,在过偏2.4 V处暗计数率为200 Hz,且532 nm单光子探测效率达到10.56%、850 nm单光子探测效率为6.49%,并通过工艺参数调节实现器件击穿电压调控,调制范围覆盖30~40 V.该器件具备良好的工程应用前景,其光电性能调制效果能进一步应用于硅基盖革管的商业化制造.
- 李喆郝昕王江邓世杰
- 关键词:雪崩光电二极管单光子探测盖革模式近红外
- 一种蓝绿光增强型硅基雪崩光电二极管及其制备方法
- 本发明公开了一种蓝绿光增强型硅基雪崩光电二极管,自下而上依次包括:背面金属电极、抗反射层、P+型非耗尽层、Π型外延层、P型活性区、N+型接触层、隔离环、永久键合胶层、键合基片、通孔电极、以及正面金属电极。本发明可有效提升...
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- 一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统
- 本发明属于光电探测技术领域,具体涉及一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。该系统采用窄脉冲半导体激光器光源,相比于外场成像试验用的大功率固体激光器,其体积小,功率低,成本低,输出光功率可调,是实现目标...
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