您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇核科学技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇TEVA
  • 2篇
  • 1篇制样
  • 1篇质谱
  • 1篇质谱法
  • 1篇同位素稀释
  • 1篇同位素稀释质...
  • 1篇后处理
  • 1篇TBP
  • 1篇
  • 1篇

机构

  • 3篇中华人民共和...
  • 2篇中国原子能科...

作者

  • 3篇徐琛
  • 2篇苏玉兰
  • 2篇金花
  • 2篇应浙聪
  • 2篇赵胜洋
  • 1篇毛欢

传媒

  • 1篇原子能科学技...
  • 1篇核科学与工程

年份

  • 2篇2014
  • 1篇2013
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
TBP-TEVA萃取色层分离-同位素稀释质谱法测定后处理铀产品中的痕量钚被引量:2
2013年
建立了有效分离与测定核燃料后处理铀产品中痕量钚的方法。采用磷酸三丁酯(TBP)-三烷基甲基胺盐(烷基为C8-C10)(TEVA)萃取色层法进行分离,应用242 Pu稀释剂,通过同位素稀释质谱法(IDICP-MS)准确测量钚的含量。模拟样品的分离与测定结果表明,该方法能够有效实现铀产品中钚的分析,铀的去污因子大于106,可以满足核燃料后处理铀产品和铀线尾端样品中痕量钚的分析要求。
金花徐琛应浙聪赵胜洋苏玉兰
关键词:
TEVA-UTEVA萃取色层分离后处理铀产品中镎的方法研究被引量:6
2014年
本文建立了有效、定量分离后处理铀产品中镎的方法。该方法采用TEVA-UTEVA萃取色层分离后处理铀产品中的微量镎,先将镎调至四价后过TEVA萃取色层柱,再用2mol/L HNO3-0.2mol/L H2C2O4解吸吸附在TEVA树脂上的镎,最后将镎解吸液稀释后过UTEVA萃取色层柱进一步分离。结果表明,镎的平均全程回收率约为94%,铀的去污因子>104。
苏玉兰金花应浙聪赵胜洋徐琛
关键词:
薄膜源制样用于X射线荧光法测量溶液中的微量铀
后处理工艺料液中铀浓度范围为100g/mL,一般采用时间分辨荧光法测定,而时间分辨荧光法测痕量铀的过程中对实验温度、酸度、制样分离等要求较高,样品预处理复杂(相对于XRF)。因此把X射线荧光法测量的浓度范围延伸至0.1μ...
徐琛毛欢
文献传递
共1页<1>
聚类工具0