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吴黎明

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：广州大学信息与机电工程学院更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇导线
  • 1篇算子
  • 1篇HOUGH变...
  • 1篇IC晶片
  • 1篇LOG算子

机构

  • 1篇广州大学

作者

  • 1篇崔山领
  • 1篇肖乐萍
  • 1篇吴黎明

传媒

  • 1篇计算机测量与...

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种IC晶片导线特征检测方法的研究
2008年
针对IC晶片导线特征检测中的难点,介绍一种基于图像处理技术的导线特征分析和缺陷检测方法,把由局部缺陷引起的线路短路、开路故障分析归结为多条平行线宽和线距的分析,先通过Hough变换实现导线边缘的直线拟合和线宽、线距的亚像素测量,再根据测量结果建立起导线边缘标准模型,并把边缘图像的二维信号转换为一维信号进行分析,最终实现导线特征的分析和缺陷的定位;仿真和实际运用结果表明该方法使IC晶片导线特征分析简单化,并使缺陷分析定位变得更加方便灵活。
崔山领吴黎明肖乐萍
关键词：IC晶片LOG算子HOUGH变换
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