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李玉斌
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1
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供职机构:
北京邮电大学
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发文基金:
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相关领域:
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合作作者
邓灿
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北京邮电大学
王俊
北京邮电大学
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北京邮电大学
任晓敏
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无掩模Si圆柱纳米图形衬底上GaAs的异变外延生长
2014年
采用金属有机化学气相沉积方法在无掩模的直径为400nm的圆柱Si(100)图形衬底上外延生长了GaAs薄膜。图形衬底采用纳米压印技术及反应离子刻蚀技术制作而成。运用两步法生长工艺在此图形衬底上制备了厚度为1.8μm的GaAs外延层。GaAs的晶体质量通过腐蚀坑密度和透射电镜表征。图形衬底上的GaAs外延层表面腐蚀坑密度约1×107 cm-2,比平面衬底上降低了两个数量级。透射电镜观测显示大部分产生于GaAs/Si异质界面的穿透位错被阻挡在圆柱顶部附近。
李玉斌
王俊
王琦
邓灿
王一帆
任晓敏
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MOCVD
GAAS
SI
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