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牛军伟

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：景德镇陶瓷大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇片上系统
  • 1篇SOC
  • 1篇BIST

机构

  • 1篇景德镇陶瓷大...

作者

  • 1篇江伴东
  • 1篇汪志成
  • 1篇牛军伟

传媒

  • 1篇单片机与嵌入...

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
2009年
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。
江伴东牛军伟汪志成
关键词：片上系统
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共1页<1>
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