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赵晨旭

作品数：1 被引量：6H指数：1
供职机构：大连民族学院更多>>
相关领域：核科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇核科学技术

主题

  • 1篇多模式
  • 1篇扫描探针显微...
  • 1篇碳化硅
  • 1篇辐照损伤

机构

  • 1篇大连民族学院

作者

  • 1篇范红玉
  • 1篇袁凯
  • 1篇王研
  • 1篇李月
  • 1篇刘纯洁
  • 1篇白志平
  • 1篇赵晨旭

传媒

  • 1篇核技术

年份

  • 1篇2014
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于多模式扫描探针显微镜技术分析碳化硅的辐照损伤被引量：6
2014年
本文在600℃对6H-SiC进行了He^+辐照实验,离子辐照能量为100 keV,剂量为5×10^(15)ions·cm^(-2)、1×10^(16)ions.cm^(-2)、3×10^(16)ions.cm^(-2)和8×10^(16)ions·cm^(-2)。本文采用多模式扫描探针显微镜技术,包括轻敲模式原子力显微镜、纳米压痕/划痕和导电模式原子力显微镜技术对样品辐照前后的表面损伤进行了分析。结果表明,随辐照剂量的增加,样品表面粗糙度逐渐增加,表面硬度逐渐下降。导电模式原子力显微镜能清晰地观测到样品表面氮泡分布形态,进一步说明材料表面的肿胀是由材料内部高压氮泡产生的。
白志平范红玉袁凯刘纯洁安泰岩王研赵晨旭李月
关键词：碳化硅辐照损伤
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