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任献普

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：河北工业大学电子信息工程学院更多>>
发文基金：河北省科学技术研究与发展计划项目更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电阻
  • 1篇信号
  • 1篇信号处理
  • 1篇信号处理器
  • 1篇数字信号
  • 1篇数字信号处理
  • 1篇数字信号处理...
  • 1篇微区薄层电阻
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体测试
  • 1篇薄层电阻
  • 1篇层电阻

机构

  • 1篇河北工业大学

作者

  • 1篇赵丽敏
  • 1篇刘新福
  • 1篇柳春茹
  • 1篇赵晓然
  • 1篇黄宇辉
  • 1篇任献普

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于EIT技术的微区薄层电阻测试系统研究被引量：1
2009年
分析了各种半导体材料电阻率测量方法的优缺点及适用性,利用电阻抗成像技术(EIT),探究了一种用来检测Si片内微区薄层电阻率均匀性的无接触测试技术。实现这种测试技术的硬件电路系统主要由激励模块恒流源、驱动模块多路模拟开关、信号处理模块前置放大电路、A/D转换器件和DSP(数字信号处理器)芯片、计算机等构成。分别介绍了各模块的构成与功能,并略述了用一种图像重建算法等位线反投影法进行阻抗分布图像的重建。
任献普刘新福黄宇辉柳春茹赵晓然赵丽敏
关键词：半导体测试数字信号处理器薄层电阻
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