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幸会

作品数：1 被引量：12H指数：1
供职机构：华中科技大学光学与电子信息学院电子科学与技术系更多>>
发文基金：湖北省自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇AD5933
  • 1篇测试系统

机构

  • 1篇华中科技大学

作者

  • 1篇黎步银
  • 1篇黄兆祥
  • 1篇刘志军
  • 1篇幸会

传媒

  • 1篇微计算机信息

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于AD5933的阻抗频谱测试系统设计与实现被引量：12
2008年
通过对元件进行阻抗频谱的测量,可以获取元件更有价值的数据。本文设计了以AD5933为核心的复阻抗频谱测试电路,简要介绍了测试流程及软件的编写,最后根据实际测试数据,对影响测量精度的因素进行了分析。本测试系统阻值范围为100Ω～10MΩ,能够满足一般阻抗频谱测试的要求。
黎步银黄兆祥幸会刘志军
关键词：AD5933
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