符梁屏
- 作品数：1 被引量：0H指数：0
- 供职机构：南昌航空大学测试与光电工程学院无损检测技术教育部重点实验室更多>>
- 发文基金：江西省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学更多>>
- 晶体取向测量的计算公式及其图解法
- 2011年
- 为了便于测量和计算,通过系统X射线衍射实验研究和理论分析,改进了X射线衍射透射及反射几何关系图,推导出定量计算公式,并创立了晶体取向测量图形。使用这种定量计算公式及图形可以非常简便、迅速而又准确地得到晶体取向的反射衍射斑点θR和透射衍射斑点θT。为了便于精确测量和更有效地利用高级测试仪器,在X射线衍射仪日常工作的同时,使用原有线焦点等实验方法进行了累计X射线衍射斑点拍照研究。结果表明,用射线源线焦点拍照的精确度与点焦点相同,操作方便,并可大大缩短调机和开机时间,充分发挥了X射线衍射仪的作用。
- 付玮符梁屏
- 关键词：晶体取向X射线源
