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张磊

作品数:3 被引量:3H指数:1
供职机构:中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇电路
  • 1篇低功耗
  • 1篇电路测试
  • 1篇电路测试系统
  • 1篇电路分析
  • 1篇多通道
  • 1篇可靠性
  • 1篇集成电路
  • 1篇功耗
  • 1篇仿真
  • 1篇板级测试
  • 1篇ULTRA
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇DDQ
  • 1篇FLEX
  • 1篇IDDQ测试
  • 1篇高性能
  • 1篇I

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇辽宁公安司法...
  • 1篇沈阳市光明电...

作者

  • 3篇张磊
  • 1篇张振华
  • 1篇王忆
  • 1篇张浩
  • 1篇周兴沛

传媒

  • 3篇微处理机

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2010
  • 1篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
Teradyne Ultra FLEX的测试程序调试被引量:2
2012年
Teradyne Ultra FLEX机台是当今世界较为先进的大规模集成电路测试系统,具有高速,精确,多通道等优点。下面以ATMEL公司的AT89S52芯片为例,介绍在Teradyne Ultra FLEX测试系统上的程序开发。
张磊张振华杨纯辉
关键词:多通道
浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试被引量:1
2007年
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
张磊王忆张浩
关键词:IDDQ测试可靠性
后仿真与测试结合在电路分析中的应用
2010年
通过介绍后仿真(即版图仿真)软件和板级测试技术,探讨了二者在集成电路设计、分析与更改中相辅相成的关系,详述了82C59(CMOS中断优先级控制器)的故障发现、后仿真与测试结果的对比,以及提出的改版方案。
周兴沛张磊
关键词:板级测试高性能低功耗
共1页<1>
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