您的位置： 专家智库 > >

李少平

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电离
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇元器件
  • 1篇气体电离
  • 1篇可靠性
  • 1篇放电
  • 1篇飞弧

机构

  • 1篇工业和信息化...

作者

  • 1篇刘丽媛
  • 1篇蔡伟
  • 1篇李少平

传媒

  • 1篇失效分析与预...

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
气体电离引发的可靠性问题研究被引量：1
2013年
由气体电离引起的飞弧现象会导致电力、电子设备出现可靠性问题,且往往不能由理论准确计算。文中分析了典型的由于空气电离引发飞弧放电现象导致电子元器件失效的案例及其现场特征;在多年失效分析经验基础上,给出了气体电离引发飞弧现象使电子元器件失效的现场判断方法和依据,分析并总结了工程应用中此故障产生的具体原因,并结合实际生产环境从产品设计、制造、使用等阶段,给出了提高可靠性的具体途径及方法。
刘丽媛李少平蔡伟
关键词：可靠性电子元器件
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0