徐长明
- 作品数：12 被引量：5H指数：1
- 供职机构：国防科学技术大学计算机学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技重大专项国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信经济管理文化科学更多>>
- 基于LBIST与JTAG结合的流水线测试结构设计
- 随着集成电路设计技术的持续迅速发展,芯片的工作频率已提高到GHz级,微处理器的性能也已达到更高的层次。运算部件是高性能微处理器的核心部件之一,如何保障运算部件的功能和性能达到预期要求,已经成为一个相当重要的课题。然而,传...
- 欧阳海燕徐长明李少青邢座程盛叶鹏
- 关键词：JTAG
- 文献传递
- 浅谈高校培养成本核算和控制问题
- 2014年
- 我国高校在培养成本核算与控制方面,由于受高校现行会计制度的缺失以及高校内部成本管理思想淡薄等因素的影响,一方面使高校成本核算数据不准确和信息反映不全面,如资产不实、债务隐形;另一方面造成成本管理不善和办学效益偏低,如成本上升、贷款规模攀升、人力资源管理落后等。本文对高校培养成本核算和控制问题进行分析,并提出相应的对策。
- 徐长明
- 关键词：高校
- 一种40hm高速寄存器单元设计
- 随着工艺尺寸的缩小,集成电路规模越来越大,处理器中寄存器数目日益庞大当处理器频率越来越高,标准单元库中提供的寄存器渐渐满足不了高性能需求.本文提出一种基于40nm工艺的高速寄存器单元设计.此单锁存器型寄存器与标准单元库中...
- 赵宗浩李少青徐长明曾艳飞
- 文献传递
- 基于扫描的at-speed测试的设计与实现
- 当工艺进入深亚微米以下,随着芯片频率的逐渐提高,传统的测试方法已经不能满足当前高速芯片的测试需求,电路传输延迟引发的延迟故障模型已成为现代高速芯片考虑的主要故障模型,因此全速(at-speed)测试对大型集成电路显得尤为...
- 王丹李少青刘蓬侠徐长明
- 文献传递
- 关于会计诚信问题的思考被引量：3
- 2012年
- 随着社会经济生活日益多样化和复杂化,以及经济不断发展的需要,会计信息质量的好坏非常重要,它直接关系到宏观经济决策的正确性和资源配置的有效性。因此,我们有必要对会计诚信问题进行分析,并提出提升会计诚信的对策。
- 马北玲徐长明
- 关键词：会计诚信会计信息
- 一种能有效降低Memory BIST功耗的方法被引量：1
- 2012年
- 随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.
- 袁秋香方粮李少青刘蓬侠余金山徐长明
- 关键词：MEMORYBIST
- 一种基于芯片解剖照片的IP核侵权鉴定方法
- 随着可重用IP核的开发研究与快速发展,IP核侵权问题越来越受到人们的重视,如何检测IP核侵权,已成为IP核提供者和使用者共同关注的焦点之一。本文基于反向解剖目标芯片的方法和图像分割理论,研究了一种IP核侵权的鉴定方法。图...
- 王伟张明朱青山王磊徐长明李少青
- 关键词：图像分割OTSU形态学操作
- 文献传递
- 一种能有效降低Memory BIST功耗的方法
- 随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-in self—test)的广泛应用，对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高，因为测试功耗一般为系统...
- 袁秋香方粮李少青刘蓬侠余金山徐长明
- 关键词：测试功耗
- 基于扫描的at-speed测试的设计与实现
- 当工艺进入深亚微米以下,随着芯片频率的逐渐提高,传统的测试方法已经不能满足当前高速芯片的测试需求,电路传输延迟引发的延迟故障模型已成为现代高速芯片考虑的主要故障模型,因此全速(at-speed)测试对大型集成电路显得尤为...
- 王丹李少青刘蓬侠徐长明
- 关键词：集成电路
- 文献传递
- 一种40nm高速寄存器单元设计
- 随着工艺尺寸的缩小,集成电路规模越来越大,处理器中寄存器数目日益庞大.当处理器频率越来越高,标准单元库中提供的寄存器渐渐满足不了高性能需求。本文提出一种基于40nm工艺的高速寄存器单元设计。此单锁存器型寄存器与标准单元库...
- 赵宗浩李少青徐长明曾艳飞
- 关键词：锁存器
- 文献传递
