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郑元芬

作品数:4 被引量:5H指数:2
供职机构:天津大学电子信息工程学院电子科学与技术系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇光电
  • 2篇光电负阻器件
  • 2篇硅光电负阻器...
  • 2篇负阻
  • 2篇负阻器件
  • 2篇SOI
  • 1篇电路
  • 1篇双稳
  • 1篇双稳态
  • 1篇瞬态
  • 1篇瞬态特性
  • 1篇集成电路
  • 1篇沟道
  • 1篇硅合金
  • 1篇合金
  • 1篇SIGE器件
  • 1篇
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇DTMOS

机构

  • 4篇天津大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇清华大学

作者

  • 4篇郑元芬
  • 3篇郭维廉
  • 3篇郑云光
  • 3篇李树荣
  • 2篇芦秀玲
  • 2篇张培宁
  • 2篇林世鸣
  • 2篇张世林
  • 2篇陈弘达
  • 1篇黎晨
  • 1篇陈培毅
  • 1篇吴荣汉
  • 1篇沙亚男
  • 1篇王纯
  • 1篇王静

传媒

  • 1篇电子学报
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2003
  • 1篇2001
  • 2篇2000
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
SiGe沟道SOI CMOS的设计及模拟被引量:2
2003年
在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以提高了电路的速度和驱动能力。另外由于两种极性的 SOI MOSFET都采用 Si Ge沟道 ,就避免了只有 SOIPMOSFET采用 Si Ge沟道带来的选择性生长 Si Ge层的麻烦。采用二维工艺模拟得到了器件的结构 ,并以此结构参数进行了器件模拟。模拟结果表明 ,N沟和 P沟两种 MOSFET的驱动电流都有所增加 。
李树荣王纯王静郭维廉郑云光郑元芬陈培毅黎晨
关键词:SIGECMOS集成电路
SPNRD的光电负阻特性与光学双稳态特性间的对应关系被引量:3
2000年
文章对电阻为负载时 ,硅光电负阻器件 (SPNRD)的光电负阻特性和光学双稳态特性间的对应关系进行了系统的分析。定义了描述静态光学双稳态特性的 7个基本参数 ,并分析了负载电阻 (RL)和电源电压 (V0 )对这些参数的影响 ,理论分析结果与实测结果相一致。所得出的结论适用于由负阻特性产生双稳态特性的所有情况。
郭维廉郑元芬沙亚男张培宁张世林李树荣郑云光陈弘达林世鸣芦秀玲
关键词:硅光电负阻器件
硅光电负阻器件的光双稳态瞬态特性
2000年
在本文中 ,一方面对电路参数与硅光电负阻器件的光学双稳态开关时间的关系进行了研究 ,另一方面对器件在低、中、高三个不同输入光强区的光学双稳态响应的变化趋势进行了研究 .硅光电负阻器件包括有各种类型 ,本文主要对“λ”型双极光电负阻晶体管 (PLBT)
郑元芬郭维廉张世林张培宁李树荣郑云光陈弘达吴荣汉林世鸣芦秀玲
关键词:硅光电负阻器件
SOI/SiGe器件的研究
该论文对SOI部分耗尽MOSFET(SOI PD-MOSFET)和SiGe沟道p-MOSFET(SiGe-MOSFET)的性能进行了研究.SOI部分耗尽MOSFET相对于体硅MOSFET而言,具有许多优点:源漏结寄生电容...
郑元芬
关键词:DTMOS
文献传递
共1页<1>
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