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文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 3篇基板
  • 2篇数据线
  • 2篇光电
  • 2篇光电二极管
  • 2篇二极管
  • 2篇TFT
  • 2篇X射线探测
  • 2篇X射线探测器
  • 2篇
  • 1篇氮化硅
  • 1篇氮化硅薄膜
  • 1篇电子器件
  • 1篇液晶
  • 1篇液晶显示
  • 1篇柔性基板
  • 1篇托盘
  • 1篇漂移
  • 1篇阈值电压
  • 1篇椭偏测量
  • 1篇面粗糙度

机构

  • 5篇京东方科技集...
  • 1篇中国计量科学...

作者

  • 5篇郭炜
  • 5篇张航
  • 3篇李禹奉
  • 3篇王路
  • 2篇王珂
  • 2篇任庆荣
  • 2篇孙增辉
  • 1篇樊其明
  • 1篇张玉军
  • 1篇徐英莹
  • 1篇于靖
  • 1篇刘文德
  • 1篇郭婧
  • 1篇陈赤

传媒

  • 1篇中国激光

年份

  • 1篇2015
  • 3篇2012
  • 1篇2011
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器
本发明提供了一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器,涉及光电技术领域,为能够对生物和环境进行有效保护,且有效降低成本而发明。所述TFT探测基板包括:基板,所述基板上设有栅线层,所述栅线层中包括栅线和与所述栅线连接的...
郭炜李禹奉王路孙增辉张航王珂
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基板托盘及柔性电子器件制造方法
本发明公开了一种基板托盘,包括托盘基板,托盘基板上具有凹槽区和位于凹槽区外围的平面状的边缘区,凹槽区设置有多个凹槽。本发明还公开了一种柔性电子器件制造方法,将柔性基板放置在基板托盘上凹槽区上方;将附带柔性基板的基板托盘放...
郭炜李禹奉郭婧张航任庆荣
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玻璃基底和表面粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响被引量:3
2012年
在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气一基底一空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底折射率。对氮化硅薄膜采用Tauc Lorentz色散模型进行了分析拟合,讨论了薄膜与基底界面层、表面粗糙度对光学常数及模型拟合的影响,表明在薄膜与基底间晶格失配的情况下,界面层的引入对改善拟合度是必要的。给出了薄膜体系的光学常数、薄膜结构的分析结果。
刘文德陈赤张航郭炜于靖樊其明徐英莹
关键词:氮化硅薄膜粗糙度背反射
一种单栅极双薄膜晶体管及其器件
本实用新型涉及半导体及光电显示器件制造领域,提供了一种单栅极双薄膜晶体管及其器件,通过采用并联的两个薄膜晶体管作为开关器件,有更好的稳定性;可以得到比现有技术更高的开关态电流比值,更有利于实现更大的灰阶电压。这种方式明显...
张航任庆荣张玉军郭炜王路
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一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器
本发明提供了一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器,涉及光电技术领域,为能够对生物和环境进行有效保护,且有效降低成本而发明。所述TFT探测基板包括:基板,所述基板上设有栅线层,所述栅线层中包括栅线和与所述栅线连接的...
郭炜李禹奉王路孙增辉张航王珂
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共1页<1>
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