陈雪兰 作品数:7 被引量:5 H指数:2 供职机构: 南京电子器件研究所 更多>> 发文基金: 微波毫米波单片集成电路与模块国家级重点实验室基金 国家教育部博士点基金 江苏省自然科学基金 更多>> 相关领域: 电子电信 更多>>
4H-SiC MESFET工艺中的金属掩膜研究 被引量:2 2008年 在4H-SiC MESFET微波功率器件制造技术中干法刻蚀是一个很重要的工艺,而对SiC外延片的RIE、ICP等干法刻蚀来说,有光刻胶、Ni、Al和NiSi化合物等多种掩膜方法,其中用光刻胶做掩膜时刻蚀形成的台阶角度缓,不垂直,而Ni、Al等金属掩膜在干法刻蚀后易形成接近垂直的台阶。通过对Ni、Al、NiSi化合物等多种金属掩膜的研究,得到了干法刻蚀台阶垂直且表面状况良好的Ni金属掩膜条件,最终成功制备出9mm SiC MESFET微波功率器件,在2GHz脉冲输出功率超过38W,功率增益9dB。 陈刚 李哲洋 陈征 冯忠 陈雪兰 柏松4H-SiC外延中的缺陷及其对肖特基二极管的影响 被引量:2 2008年 研究了4H-SiC外延片中的缺陷对制作出的Ni/4H-SiC肖特基势垒二极管的电学性能的影响。SiC的外延生长是通过LPCVD外延设备在偏8°的(0001)Si面4H-SiC单晶片上进行的,衬底材料来自外购,同质生长的SiC外延层掺杂为n型,掺杂浓度5×1015cm-3,厚度为10μm。通过对外延好的4H-SiC片进行2cm×2cm划片,使用扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)及喇曼光谱多种测试手段对边长为2cm的方形SiC外延材料的表面形貌、缺陷和晶型进行了分析研究,制作了简单的Ni/4H-SiC肖特基势垒二极管,制造的二极管为直径110μm的圆形。简述了制作肖特基势垒二极管的相关工艺流程;通过电学测试得到了性能较好的特性参数为理想因子n=1.24,势垒高度=0.87eV,击穿电压在650V。 陈刚 陈雪兰 柏松 李哲洋 韩平关键词:4H-SIC 肖特基二极管 势垒高度 Ni,Ti/4H-SiC肖特基势垒二极管 被引量:1 2007年 采用本实验室生长的4H-SiC外延片,分别用高真空电子束蒸Ni和Ti做肖特基接触金属,Ni合金作欧姆接触,SiO_2绝缘环隔离减小高压电场集边效应等技术,制作出4H-SiC肖特基势垒二极管(SBD)。该器件在室温下反向击穿电压大于600 V,对应的漏电流为2.00×10^(-6)A。对实验结果分析显示,采用Ni和Ti作肖特基势垒的器件的理想因子分别为1.18和1.52,肖特基势垒高度为1.54 eV和1.00 eV。实验表明,该器件具有较好的正向整流特性。 汪浩 柏松 陈刚 李哲洋 刘六亭 陈雪兰 邵凯关键词:碳化硅 肖特基势垒二极管 击穿电压 大栅宽SiC MESFET器件的制造与研究 本论文针对S波段1mm、3.6mm、9mm、20mm多种大栅宽4H-SiC MESFET功率管的版图设计、制作工艺和微波性能进行研究及比较.采用半绝缘衬底的自主外延的SiC三层外延片,制作出单胞总栅宽1mm、3.6mm、... 陈刚 蒋幼泉 李哲洋 张涛 吴鹏 冯忠 汪浩 陈征 陈雪兰 柏松关键词:金属半导体场效应管 微波技术 宽禁带半导体 文献传递 4H-SiC外延中的缺陷及其对肖特基二极管的影响 研究了4H-SiC外延片中的缺陷对制作出的Ni/4H-SiC肖特基势垒二极管的电学性能的影响。SiC的外延生长是通过LPCVD外延设备在偏8°的(0001)Si面4H-SiC单晶片上进行的,衬底材料来自外购,同质生长的S... 陈刚 陈雪兰 柏松 李哲洋 韩平关键词:4H-SIC 肖特基二极管 势垒高度 文献传递 S波段4W SiC MESFET器件研制 本论文介绍了S波段4H-SiC MESFET功率管的材料设计、制作工艺和微波性能.采用半绝缘衬底的自主研制的SiC三层外延片,成功制作出单胞1mm栅宽的芯片.经过装架、压丝,未作内匹配,单管器件在S波段2GHz频率连续波... 陈刚 柏松 张涛 汪浩 李哲洋 陈雪兰 蒋幼泉关键词:碳化硅 金属半导体场效应管 宽禁带半导体 微波性能 文献传递 4H-SiC MESFET工艺中的金属掩膜研究 在4H-SiC MESFE微波功率器件制造技术中干法刻蚀是一个很重要的工艺,而对SiC外延片的RIE、ICP等干法刻蚀来说,有光刻胶、Ni、Al和NiSi化合物等多种掩膜方法,其中用光刻胶做掩膜时刻蚀形成的台阶角度缓,不... 陈刚 李哲洋 陈征 冯忠 陈雪兰 柏松文献传递