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徐文杰

作品数:8 被引量:3H指数:1
供职机构:杭州电子科技大学更多>>
发文基金:浙江省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇科技成果

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 5篇短路
  • 5篇短路点
  • 5篇抗ESD
  • 4篇电力
  • 4篇电力电子
  • 4篇电力电子系统
  • 3篇静电损伤
  • 3篇互连
  • 3篇互连线
  • 3篇二极管
  • 2篇低浓度
  • 2篇离子注入
  • 2篇工艺方法
  • 2篇工艺技术
  • 2篇SOI
  • 1篇电阻
  • 1篇虚拟制造
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇通态电阻
  • 1篇漂移区

机构

  • 8篇杭州电子科技...

作者

  • 8篇张海鹏
  • 8篇徐文杰
  • 5篇高明煜
  • 5篇许杰萍
  • 4篇徐丽燕
  • 4篇孙玲玲
  • 2篇吕幼华
  • 2篇刘国华
  • 2篇汪洁
  • 1篇苏步春
  • 1篇齐瑞生
  • 1篇林弥
  • 1篇赵伟立
  • 1篇许生根
  • 1篇刘军
  • 1篇李文钧
  • 1篇何佳
  • 1篇吴颜明
  • 1篇张亮

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇杭州电子科技...

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2008
  • 3篇2007
  • 2篇2006
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
抗ESD的集成SOI LIGBT器件单元
本实用新型涉及一种集成抗静电损伤二极管的SOI LIGBT器件单元。常规的SOI LIGBT由于高压静电引起栅击穿造成静电损伤。本实用新型包括半导体衬底、隐埋氧化层、漂移区、阱区、阱接触区、阴极区、抗ESD二极管阴极区、...
张海鹏徐文杰许杰萍高明煜刘国华徐丽燕
文献传递
A Continuous and Analytical Surface Potential Model for SOI LDMOS被引量:1
2007年
A continuous and analytical surface potential model for SOI LDMOS, which accounts for automatic transitions between fully and partially-depleted statuses,is presented. The surface potential equation of the SOI de- vice is solved by using the PSP′s accurate algorithm of surface potential,and the front and back surface potentials are obtained analytically as a function of gate and drain voltage. The formulations of inversion charge and body charge under the fully-depleted state have been modified. The continuous and analytical DC model for SOl LD- MOS is given based on PSP. The comparisons between simulation and measurements indicate that this model can predict the DC characteristics of SOI LDMOS accurately.
徐文杰孙玲玲刘军李文钧张海鹏吴颜明何佳
关键词:SOILDMOSPSP
集成抗ESD二极管的SOI LIGBT器件单元
本发明涉及一种集成抗静电损伤二极管的SOILIGBT器件单元。常规的SOI LIGBT由于高压静电引起栅击穿造成静电损伤。本发明包括半导体衬底、隐埋氧化层、漂移区、阱区、阱接触区、阴极区、抗ESD二极管阴极区、栅氧化层、...
张海鹏徐文杰许杰萍高明煜吕幼华汪洁
文献传递
集成抗ESD二极管的SOI LIGBT器件单元
本发明涉及一种集成抗静电损伤二极管的SOI LIGBT器件单元。常规的SOI LIGBT由于高压静电引起栅击穿造成静电损伤。本发明包括半导体衬底、隐埋氧化层、漂移区、阱区、阱接触区、阴极区、抗ESD二极管阴极区、栅氧化层...
张海鹏徐文杰许杰萍高明煜吕幼华汪洁
文献传递
抗ESD集成SOI LIGBT器件单元的工艺方法
本发明涉及集成抗ESD二极管的SOI LIGBT器件结构的SOI CMOS VLSI工艺实现方法。现有方法制作的SOI LIGBT器件没有集成抗ESD结构与功能。本发明通过将常规SOI LIGBT器件的SOI CMOS ...
张海鹏徐文杰许杰萍孙玲玲高明煜徐丽燕
文献传递
集成SOI LIGBT/LDMOS器件结构、工艺、设计、虚拟制造与仿真测试
刘国华张亮张海鹏徐丽燕徐文杰朱志远林弥毛建军胡煜涛苏步春许生根赵伟立齐瑞生
发明专利1:针对现有技术的不足将反向续流二极管集成在SOILIGBT器件单元结构之中,使其无需外接任何器件就具有逆向导通能力,能够显著改善SOILIGBT器件速度、可靠性与使用寿命,减小采用该种器件的各种电力电子系统的体...
关键词:
关键词:电力电子系统半导体器件
抗ESD集成SOI LIGBT器件单元的工艺方法
本发明涉及集成抗ESD二极管的SOI LIGBT器件结构的SOI CMOSVLSI工艺实现方法。现有方法制作的SOI LIGBT器件没有集成抗ESD结构与功能。本发明通过将常规SOI LIGBT器件的SOI CMOS V...
张海鹏徐文杰许杰萍孙玲玲高明煜徐丽燕
文献传递
漂移区均匀掺杂SOILIGBT通态电阻模型被引量:2
2007年
在研究影响绝缘层上硅横向绝缘栅双极晶体管通态电阻物理机制的基础上,将通态电阻分解为沟道电阻、漂移区电阻和缓冲层电阻。计算沟道电阻考虑了沟道两侧耗尽层扩展对沟道电阻的影响。计算漂移区电阻时,将漂移区按载流子的分布分为3个部分,然后分别进行求解。然后综合得到SOI LIGBT通态电阻的近似模型,并讨论了影响SOI LIGBT通态电阻特性的主要因素,最后根据讨论结果提出改善措施。
徐文杰孙玲玲张海鹏
关键词:绝缘层上硅横向绝缘栅双极晶体管通态电阻
共1页<1>
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