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方朋

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供职机构：电子科技大学更多>>

合作作者

题名
作者

文献类型

  • 1篇国内会议论文

主题

  • 1篇模型参数提取
  • 1篇MOSFET

机构

  • 1篇电子科技大学

作者

  • 1篇于奇
  • 1篇杨沛锋
  • 1篇肖兵
  • 1篇陈勇
  • 1篇谭超元
  • 1篇王向展
  • 1篇杨谟华
  • 1篇方朋
  • 1篇刘玉奎

传媒

  • 1篇第八届全国可...

年份

  • 1篇1999
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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MOSFET热载流子退化/寿命模型参数提取
MOSFET热载流子可靠性物理，并结合电应力条件下热载流子退化特征量ΔI＜，ds＞/I＜，ds0＞、I＜，sub＞等实测数据的拟合处理，本文发展了可表征退化物理意义的衬底电流与退化/寿命参数提取模型；进而由自动测试ATE...
于奇王向展陈勇刘玉奎肖兵杨沛锋方朋杨谟华谭超元
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