袁晨
- 作品数：4 被引量：6H指数：2
- 供职机构：北京大学软件与微电子学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 共振隧穿现象与LED失效模型的分析方法被引量：2
- 2011年
- 针对实验中发现的受静电损伤LED与共振隧穿二极管（RTD）模型有相似表现的现象，提出一种LED失效分析方法。经过500～3000V的HBM模型损伤，一部分失效LED的1-V曲线表现出类似共振隧穿二极管（RTD），正向电流呈现隧道电流的特征，证实静电损伤路径穿越了LED内量子阱，改变了内部的结构。将这种曲线与RTD做对比，并推广至其他失效曲线的分析，建立了一套通过伏安特性曲线对比方法，分析LED受损位置。这种失效模型分析方式可以不借助微观实验，直接进行判断，并可通过经验不断丰富。
- 袁晨严伟
- 关键词：LED静电
- LED芯片静电失效性研究与测试标准研究
- 发光二极管(LED)从问世至今经历了多次技术革新，应用领域逐渐拓宽。作为特殊光源或显示用途的发光二极管需要通过与复杂集成电路系统的整合实现功能，它们的可靠性不断面临新的挑战。目前，发光二极管荧光灯替代灯和道路照明灯具的集...
- 袁晨
- 关键词：发光二极管
- LED静电损伤在老化过程中的变化趋势被引量：4
- 2011年
- 针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化。实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材料和发光材料的搭配方式有关。对于未被静电损伤的芯片,经过老化过程后,并没有出现静电损伤被放大导致功能性失效的现象,静电对其参数衰减无明显影响,与单一的老化实验趋势相似。对于经过静电击打后出现异常,无法正常发光的芯片,高温老化实验产生了使其迅速损坏和复原的情况。
- 袁晨代文文陈楚严伟
- 关键词：LEDESD可靠性
- LED批量抗静电测试基座
- 本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种...
- 严伟袁晨程玉华
- 文献传递
