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- 作品数：1 被引量：4H指数：1
- 供职机构：北京大学软件与微电子学院更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- LED静电损伤在老化过程中的变化趋势被引量：4
- 2011年
- 针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化。实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材料和发光材料的搭配方式有关。对于未被静电损伤的芯片,经过老化过程后,并没有出现静电损伤被放大导致功能性失效的现象,静电对其参数衰减无明显影响,与单一的老化实验趋势相似。对于经过静电击打后出现异常,无法正常发光的芯片,高温老化实验产生了使其迅速损坏和复原的情况。
- 袁晨代文文陈楚严伟
- 关键词：LEDESD可靠性
