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陈守顺

作品数:5 被引量:11H指数:1
供职机构:中国科学院微电子研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇电路
  • 3篇亚微米
  • 3篇深亚微米
  • 3篇耦合电容
  • 3篇集成电路
  • 2篇信号串扰
  • 2篇亚微米工艺
  • 2篇深亚微米工艺
  • 2篇微米工艺
  • 2篇寄生参数
  • 2篇寄生参数提取
  • 2篇超大规模集成
  • 2篇超大规模集成...
  • 2篇串扰
  • 2篇大规模集成电...
  • 2篇CROSST...
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇低噪声放大器
  • 1篇信号

机构

  • 5篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学院

作者

  • 5篇陈守顺
  • 3篇蒋见花
  • 3篇黄令仪
  • 2篇杨旭
  • 1篇朱亚江
  • 1篇胡伟武
  • 1篇胡勇
  • 1篇黄广宇
  • 1篇杨旭

传媒

  • 1篇微电子学
  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2004
  • 1篇2003
  • 1篇2002
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
基于CMOS的RFIC的发展现状被引量:11
2002年
目前 ,射频电路存在广阔的市场 ,成为无线通信领域内研究的热点之一。文章主要介绍了基于
黄广宇胡勇杨旭陈守顺朱亚江
关键词:射频集成电路低噪声放大器功率放大器压控振荡器
深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除
2004年
随着特征尺寸降低到0.18μm以下,crosstalk日渐成为影响芯片设计成功与否的关键问题。本文分析了的深亚微米VLSI设计中由耦合电容造成的信号间的crosstalk问题,给出了一种峰值噪声电压的估计模型,并结合“龙芯一号”的设计,讨论了利用EDA工具解决crosstalk问题的流程。
陈守顺黄令仪蒋见花胡伟武
关键词:VLSICROSSTALK耦合电容
消除深亚微米工艺中连线耦合电容造成的信号串扰的方法
本发明一种消除深亚微米工艺中连线耦合电容造成的信号串扰的方法,包括如下步骤:详细布线:为制作超大规模集成电路的制作工艺作准备;寄生参数提取:分析耦合电容对芯片的影响;标准延迟文件产生:为了产生不含信号上升或下降的最小源电...
黄令仪陈守顺杨旭蒋见花左红军
文献传递
消除深亚微米工艺中连线耦合电容造成的信号串扰的方法
本发明一种消除深亚微米工艺中连线耦合电容造成的信号串扰的方法,包括如下步骤:详细布线:为制作超大规模集成电路的制作工艺作准备;寄生参数提取:分析耦合电容对芯片的影响;标准延迟文件产生:为了产生不含信号上升或下降的最小源电...
黄令仪陈守顺杨旭蒋见花左红军
文献传递
“龙芯一号”CPU的信号完整性问题解决方案
随着工艺水平进入0.18um以下的尺寸,芯片设计面临新的挑战,总结起来主要有两点:系统越来越复杂;速度越来越高,尺寸又越来越小,同时系统要求更加稳定.于是一些在低速大尺寸设计中的二级效应上升成为主要矛盾,最为引人瞩目的就...
陈守顺
关键词:信号完整性CROSSTALK
共1页<1>
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