刘昂
- 作品数：27 被引量：10H指数：3
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信更多>>
- （D）KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法
- 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等...
- 郑垠波巴荣声丁磊周信达李杰徐宏磊李亚军那进张霖刘勇石振东马骅刘昂徐凯源万道明白金玺
- 文献传递
- 一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置
- 本发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置，所述方法包括对含噪波前位相W<Sub>o</Sub>进行预处理，得到扩展矩阵W；对扩展矩阵W进行二维离散小波分解，得到系数向量C<Sub>o</Sub>；基...
- 徐凯源柴立群刘昂何宇航陈宁李强高波魏小红万道明
- 文献传递
- 基于计算全息术的长焦距透镜功率谱密度检测方法
- 2022年
- 高功率激光器的中频误差会导致自聚焦和功率损耗,但大口径长焦距非球面透镜中频波前的检测一直是一个瓶颈。本文引入计算全息术测量非球面透镜中频波前功率谱密度。借助现代光刻技术,我们研制了大口径高精度CGH,用以提供高精度的非球面参考波前,从而实现了大口径长焦距透镜中频波前功率谱密度高精度检测,且该方法可大大缩短光路、降低振动和空气扰动的影响。通过与干涉法测量结果对比,验证了计算全息法测量的准确性和方便性。此外,详细分析了计算全息法应用于非球面透镜中频波前检测的测量不确定度。理论分析和实际检测结果表明,对于焦距大于30 m、通光口径大于Φ410 mm的长焦距非球面透镜,其中频波前PSD测量不确定度RMS小于1 nm。
- 魏小红徐凯源刘昂
- 关键词：功率谱密度
- 大口径光学元件功率谱密度的拼接干涉检测被引量：3
- 2019年
- 为实现大口径光学元件波前功率谱密度(PSD)的高精度、低成本检测,提出了一种将干涉与拼接技术结合的检测方法。推导了波前PSD的计算方法,提出了基于相关匹配的子孔径拼接算法,分析了拼接干涉检测的误差来源。对拼接检测算法进行了仿真验证,结果表明,拼接检测的波前畸变峰谷值(d_(pv))与PSD的均方根值(P_(RMS))的相对偏差分别为1.2%和0.1%。采用口径为620 mm×450 mm光学元件开展了5次拼接检测实验,比较了拼接检测与全口径直接检测结果,两者分布一致,d_(pv)偏差不大于0.012λ(λ=632.8 nm),P_(RMS)偏差不大于0.03 nm,表明该算法稳定可靠,可实现大口径光学元件波前PSD的拼接检测。
- 刘昂何宇航李强高波石琦凯柴立群许乔
- 关键词：子孔径拼接功率谱密度
- 一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法
- 本发明公开了一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法，该系统包括迈克尔逊干涉仪，由短相干光源、分光棱镜、参考反射镜、和半透半反镜组成迈克耳逊干涉光路，利用迈克耳逊干涉光路等臂原理,参考反射镜可前后移动从而匹配半透...
- 高波柴立群李强刘昂何宇航魏小红徐凯源
- 文献传递
- 一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置
- 本发明公开了一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置，涉及光学元件检测装置技术领域，本发明包括若干组水平布置的光束形成机构，光束形成机构均包括从右到左依次布置的基础光源、准直透镜、扩束凹镜和柱面准直镜，准直透镜为平凸...
- 刘昂赵智亮徐凯源柴立群李强高波赵子嘉何宇航
- 文献传递
- 超轻量化非球面反射镜成形加工恒定磨削力的控制方法
- 本发明涉及超轻量化非球面反射镜成形加工恒定磨削力的控制方法，本发明采用压电陶瓷将作用于三维力测量台上的力信号转换为电信号，经放大调理后成为模拟电压信号，并传送至磨削力采集处理模块；磨削力采集处理模块根据力和电压信号之间的...
- 周炼马厚才刘燕嵇保健张利平刘昂钟波韦前才樊非张清华
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
- 高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
- 高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
- 基于小波变换的平板波前死条纹噪声滤除方法被引量：4
- 2020年
- 高功率激光器的建造需要大量的高精度光学平板,其波前检测一般采用相移干涉技术。由于测试光在光学平板内的多次反射,存在由寄生干涉导致的死条纹现象。死条纹会在波前检测结果中引入周期性相位噪声,极大降低了波前检测结果的置信度。针对该问题,提出了一种基于小波变换的降噪方法,可根据死条纹噪声特征对波前检测结果进行降噪,不需要额外硬件或调整测试状态。实验结果表明,该方法可以有效滤除死条纹引入的相位噪声,且能很好地保留加工特征。
- 徐凯源徐凯源李大海刘昂柴立群何宇航
- 关键词：小波变换
