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吕旭波

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：北京航空航天大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇技术成熟度
  • 1篇电路
  • 1篇电源
  • 1篇电源模块
  • 1篇多芯片
  • 1篇多芯片模块
  • 1篇维度
  • 1篇芯片
  • 1篇逻辑
  • 1篇逻辑回归
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性指标
  • 1篇混合集成电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇工作分解结构
  • 1篇复杂电路
  • 1篇DC-DC电...
  • 1篇DC-DC电...
  • 1篇层次分析
  • 1篇层次分析法

机构

  • 3篇北京航空航天...

作者

  • 3篇黄姣英
  • 3篇高成
  • 3篇吕旭波
  • 2篇崔灿
  • 1篇王香芬

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2016
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种DC-DC电源模块的技术成熟度评价方法
一种DC‑DC电源模块的技术成熟度评价方法，步骤如下：一：构建DC‑DC电源模块的技术成熟度评价体系框架；二：建立DC‑DC电源模块的技术成熟度评价模型；三：计算DC‑DC电源模块的技术成熟度：得到技术维度、材料维度、设...
崔灿黄姣英高成吕旭波
文献传递
基于文献统计方法的多芯片模块技术评价研究
2016年
在技术成熟度的评价过程中,现有的TRL(技术成熟度等级)评价方法、TRIZ(发现并解决问题的理论)评价法以及性能预测法均存在有效数据缺乏和评价结果不够精确等不足。采用了基于文献统计的方法,探索技术成熟度的评价方法及实施流程。研究技术指标的构建方法,结合logistic regression(逻辑回归)技术,构建技术发展模型,以保证数据的有效性和拟合结果的准确性。针对二维、三维及系统级多芯片模块3种技术,开展方法的应用研究。研究结果表明,基于文献统计方法的多芯片模块技术的评价结果能合理地解释实际情况下技术的发展程度,验证了文章提出方法的可行性。
吕旭波黄姣英高成王香芬
关键词：技术成熟度逻辑回归多芯片模块
针对混合集成电路可靠性指标评价的层次结构构建方法
一种针对混合集成电路可靠性指标评价的层次结构构建方法,其步骤如下：一：确定混合集成电路可靠性评价层次结构的目标层；二：确定混合集成电路可靠性评价层次结构的准则层；三：确定混合集成电路可靠性评价层次结构的关键要素层；通过以...
吕旭波黄姣英高成崔灿
文献传递
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