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凌勇
作品数:
3
被引量:2
H指数:1
供职机构:
清华大学工程物理系
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
一般工业技术
理学
电子电信
机械工程
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合作作者
陈皓明
清华大学工程物理系
韩立
清华大学工程物理系
谢志刚
清华大学工程物理系
吉元
北京工业大学
顾毓沁
清华大学航天航空学院工程力学系
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分子
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复合材料
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复合材
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C_(60)
机构
3篇
清华大学
1篇
北京工业大学
1篇
日本东北大学
作者
3篇
陈皓明
3篇
凌勇
2篇
韩立
1篇
顾毓沁
1篇
吉元
1篇
薛其坤
1篇
谢志刚
1篇
樱井利夫
传媒
1篇
物理学报
1篇
电子显微学报
1篇
第七届全国L...
年份
2篇
2000
1篇
1997
共
3
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C_(60)分子在GaAs(001)表面的外延生长的扫描隧道显微镜研究
1997年
利用扫描隧道显微镜(STM)系统地研究了C60薄膜在GaAs(001)表面的异质外延生长.在GaAs(001)2×4β相表面,观察到C60薄膜以非密排面进行生长,并在生长中有结构相变产生.实验数据表明,薄膜下层面心立方(fcc)的晶格常数比C60晶体的晶格常数要大13%;而薄膜的表层结构则展示了非理想的六角密堆(hcp)结构,其表面为hcp(1100)面,生长过程是非理想的层状生长模式.在GaAs(001)c(4×4)衬底上,C60薄膜的表面仍然是fcc(111)面,其结构参数与C60晶体一致。
凌勇
薛其坤
陈皓明
樱井利夫
关键词:
STM
碳60
分子
用扫描热显微镜研究材料表面微区热导分布
被引量:2
2000年
从集总参数模型出发 ,初步分析了热敏电阻型热探针的热传导机制和热物性测量机理 ,说明了扫描热探针的信号与样品表面温度、样品与探针间的热阻以及样品热导率等因素有关。在不同的工作条件下 ,可分别用以进行表面的温度分布和微区热导分布等热参数的测量。选定 Si- Si O2 标准样品 ,定性地讨论了表面形貌和样品热导率对测量结果的影响。把扫描热显微镜用于复合材料研究 。
谢志刚
韩立
凌勇
王秀凤
陈皓明
顾毓沁
吉元
关键词:
热导率
复合材料
LED外延片激光扫描荧光光谱检测仪
该文介绍了一种智能化激光扫描荧光光谱检测仪,可对光致荧光样品进行扫描分析,从而获得需要的整体信息,介绍了仪器对LED外延片进行在线无损检测的应用。该仪器可迅速对LED外延片进行在线检测,给出相关参数。实现智能化检测。
董占民
苏哲
凌勇
韩立
陈皓明
关键词:
激光扫描
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