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陈义强
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供职机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所
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电子电信
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电气工程
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合作作者
恩云飞
中国电子产品可靠性与环境试验研...
黄云
中国电子产品可靠性与环境试验研...
雷登云
中国电子产品可靠性与环境试验研...
何春华
中国电子产品可靠性与环境试验研...
来萍
中国电子产品可靠性与环境试验研...
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恩云飞
供职机构:工业和信息化部电子第五研究所
研究主题:可靠性 集成电路 单粒子效应 木马 电迁移
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黄云
供职机构:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
研究主题:电子器件 单粒子效应 单粒子 电场 失效率
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所获资助
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雷登云
供职机构:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
研究主题:MOS管 电路 传感器 处理器芯片 处理器
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供职机构
所获资助
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来萍
供职机构:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
研究主题:微波功率器件 气体浓度 MMIC 可靠性 传感器故障
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何春华
供职机构:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
研究主题:MOS管 分辨率 加速度计 芯片 电路
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章晓文
供职机构:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
研究主题:测试装置 加热板 温度 电迁移 寿命时间
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