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顾瑛

作品数：11 被引量：47H指数：3
供职机构：西安电子科技大学微电子学院微电子研究所更多>>
相关领域：电子电信电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 8篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇可靠性
  • 2篇电路
  • 2篇电阻
  • 2篇双极型
  • 2篇双极型集成电...
  • 2篇集成电路
  • 2篇监测技术
  • 1篇导电
  • 1篇导电机理
  • 1篇导电胶
  • 1篇电子产品
  • 1篇电子组装
  • 1篇电阻测量
  • 1篇氧化硅薄膜
  • 1篇氧化膜
  • 1篇针孔
  • 1篇砷化镓
  • 1篇子产
  • 1篇自动测量
  • 1篇自动测量法

机构

  • 11篇西安电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 11篇顾瑛
  • 9篇张德胜
  • 3篇韩孝勇
  • 2篇赵策洲
  • 1篇胡刚毅
  • 1篇张军琴
  • 1篇郭林
  • 1篇陈党辉
  • 1篇陈曦
  • 1篇孙怀安
  • 1篇张正元
  • 1篇张绵

传媒

  • 3篇电子产品可靠...
  • 2篇微电子学
  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子测量技术
  • 1篇微电子技术
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国集成电路...

年份

  • 1篇2002
  • 2篇2000
  • 1篇1999
  • 1篇1997
  • 1篇1996
  • 3篇1994
  • 1篇1990
  • 1篇1989
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
CMOS工艺氧化膜完整性的评估
1999年
提出了用阵列电容来监测氧化层的完整性。分析表明，从多个子列的氧化层电容漏电合格率的曲线可以求出氧化层完整性的表征因子 Ｅ 值（每个缺陷包含的单元数）。
张德胜顾瑛韩孝勇
关键词：CMOS工艺氧化膜可靠性评估IC
国外微电子组装用导电胶的研究进展被引量：34
2002年
介绍导电胶的组成、分类、较之于传统共晶锡铅焊料的优点以及导电胶的研究现状。重点阐述国外在导电胶导电机理研究、可靠性研究及新型高性能导电胶研制方面的现状和进展。
陈党辉顾瑛陈曦
关键词：微电子导电胶导电机理可靠性接触电阻
“金属薄膜层附着性”试验方法被引量：6
2000年
金属薄膜层附着性的“扯带”试验中胶带纸本身的粘结强度起着重要的作用 ,胶带纸的粘结强度过低或过高都不能正确评价金属薄膜层的附着性。因此需要对胶带纸的粘结强度提出一个要求。为此给出试验过程中能同时测定胶带纸粘结强度的试验方法。
张德胜顾瑛韩孝勇孙怀安华桂芳
关键词：附着强度
GaAs表面处理与可靠性被引量：1
1997年
本文采用不同表面处理方法制备样品，利用C-V和边栅效应测试图形研究其对肖特基势垒的正向n值、反向击穿电压和边栅效应的影响。将不同表面处理方法制备的器件进行可靠性试验。由此给出GaAs表面处理的优化方法。
顾瑛张德胜张绵
关键词：表面处理砷化镓
微电路机械结构可靠性试验述评
1996年
本文阐述了微电路机械结构可靠性试验在研究和评价机械结构可靠性领域中的作用;微电路在实际应用中遇到的机械应力的类型以及MIL标准和我国相应标准中机械应力试验项目的变化情况.以较大的篇幅分析了主要机械结构试验所针对的失效机理以及各试验之间的差别和相关性.举例定量计算了恒定加速度试验与芯片和基座附着强度试验对芯片所施机械应力强度的悬殊差别,最后列举了我国在这领域中急待研究解决的问题.
顾瑛张德胜韩孝勇
关键词：机械结构可靠性
薄层方块电阻自动测量法被引量：3
2000年
文中给出了一种由配有IEEE-488接口的恒流源、电压表、开关矩阵和计算机组建自动测量系统的方法。利用该系统可以方便地测得薄层方块电阻。
张军琴顾瑛
关键词：IEEE-488接口自动测量系统电阻测量
双极型集成电路表面质量的监测技术和系统
张德胜顾瑛
关键词：集成电路
双极型集成电路表面质量的监测技术和系统被引量：1
1994年
本文讨论了双极型集成电路表面质量的表征量,给出了这些表征量的测试方法,以及监测这些表征量测试系统的硬件和软件方框图,并列出了利用该系统所得到的测试结果.
张德胜顾瑛赵策洲
关键词：双极型集成电路集成电路电子产品
SiO_2膜针孔的分析与检测被引量：2
1994年
本文分析了ＳｉＯ＿２膜的针孔模型及漏电机理，讨论了针孔密度的概念，并用ＥＰＷ（乙二胺－邻苯二酚水溶液）法和漏电流法分析了针孔与漏电流的关系，给出了ＳｉＯ＿２膜无明显针孔的判据。
赵策洲张德胜顾瑛胡刚毅郭林张正元
关键词：针孔漏电流光刻二氧化硅薄膜
电荷陷阱对器件稳定性的影响和监测电荷陷阱密度方法
1989年
本文论述了电荷陷阱对器件稳定性的影响;认为在器件制造过程中监测电荷陷阱密度是很重要的.本文介绍了雪崩注入法测量电荷陷阱密度的方法,并给出了测量结果.
顾瑛张德胜张民强
关键词：稳定性
全文增补中
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共2页<12>
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