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文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 3篇电路
  • 3篇射频
  • 3篇射频集成
  • 3篇射频集成电路
  • 3篇集成电路
  • 2篇电路芯片
  • 2篇在片测试
  • 2篇芯片
  • 2篇集成电路芯片
  • 2篇测试技术
  • 1篇地线
  • 1篇电性
  • 1篇移动通信
  • 1篇直流偏置
  • 1篇射频测试
  • 1篇砷化镓
  • 1篇数据统计
  • 1篇探针
  • 1篇探针卡
  • 1篇通信

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇吴振海
  • 4篇钱峰
  • 3篇徐光
  • 3篇陈新宇
  • 2篇陈金远
  • 1篇杨乃彬
  • 1篇蒋幼泉
  • 1篇邵凯
  • 1篇李拂晓
  • 1篇许正荣
  • 1篇陈辰

传媒

  • 1篇2010年全...

年份

  • 1篇2011
  • 2篇2010
  • 1篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
移动通信砷化镓射频集成电路开发及产业化
李拂晓蒋幼泉杨乃彬陈新宇陈辰邵凯钱峰钮利荣许正荣吴振海徐中仓冯欧杨立杰
以中国电子科技集团公司第五十五研究所所现有砷化镓3英寸、0.5微米集成电路工艺线为依托,自主开发移动通信基站和手机用砷化镓射频集成电路,主要研究内容包括砷化镓标准工艺技术、工艺控制技术、批生产技术、射频产品的塑封技术、电...
关键词:
关键词:砷化镓射频集成电路移动通信
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试
文献传递
射频测试用直流偏置探针卡
本发明是射频测试用直流偏置探针卡,其特征是包括一扇形探针卡基板,在探针卡基板上设有多个信号线路及接地线路,信号线路和信号线路相互间隔距上设有至少一个接地线路,有防止外部噪声干扰该信号线路的电性防护作用;接头安装位置为信号...
吴振海徐光钱峰
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试数据统计
文献传递
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