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文献类型

  • 2篇会议论文
  • 2篇专利

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇电路
  • 3篇射频
  • 2篇电路芯片
  • 2篇在片测试
  • 2篇射频集成
  • 2篇射频集成电路
  • 2篇芯片
  • 2篇集成电路
  • 2篇集成电路芯片
  • 2篇测试技术
  • 1篇单刀双掷
  • 1篇单刀双掷开关
  • 1篇单片
  • 1篇单片电路
  • 1篇地线
  • 1篇电性
  • 1篇电子迁移率
  • 1篇直流偏置
  • 1篇射频测试
  • 1篇射频功率

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇徐光
  • 3篇吴振海
  • 3篇钱峰
  • 3篇陈新宇
  • 2篇陈金远
  • 1篇许正荣

传媒

  • 1篇2010年全...

年份

  • 2篇2011
  • 2篇2010
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试
文献传递
射频测试用直流偏置探针卡
本发明是射频测试用直流偏置探针卡,其特征是包括一扇形探针卡基板,在探针卡基板上设有多个信号线路及接地线路,信号线路和信号线路相互间隔距上设有至少一个接地线路,有防止外部噪声干扰该信号线路的电性防护作用;接头安装位置为信号...
吴振海徐光钱峰
射频功率单刀双掷开关电路
本发明是一种基于砷化镓(GaAs)赝配高电子迁移率晶体管(PHEMT)的射频功率单刀双掷开关(SPDT)电路。开关单片电路采用三栅PHEMT,串并拓扑,对称结构设计。信号经过2个三栅PHEMT串联到输出端,输出端同时经过...
许正荣陈新宇徐光
文献传递
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试数据统计
文献传递
共1页<1>
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