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文献类型

  • 2篇中文专利

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇电阻
  • 2篇离子
  • 2篇离子注入
  • 2篇离子注入工艺
  • 2篇ESD防护
  • 2篇MOS器件

机构

  • 2篇上海集成电路...

作者

  • 2篇肖慧敏
  • 2篇曹永峰
  • 2篇周伟
  • 2篇王全
  • 2篇俞柳江
  • 2篇陈立山

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
用于ESD防护的MOS器件的形成方法
本发明公开了一种用于ESD防护的MOS器件的形成方法,通过与该MOS器件类型相反的另一MOS器件的源/漏区的离子注入工艺,对形成该MOS器件的镇流电阻的区域进行反向注入,从而最终降低该区域的离子注入浓度,进而在不增加工艺...
俞柳江王全曹永峰周伟顾学强肖慧敏陈立山
用于ESD防护的MOS器件的形成方法
本发明公开了一种用于ESD防护的MOS器件的形成方法,通过与该MOS器件类型相反的另一MOS器件的源/漏区的离子注入工艺,对形成该MOS器件的镇流电阻的区域进行反向注入,从而最终降低该区域的离子注入浓度,进而在不增加工艺...
俞柳江王全曹永峰周伟顾学强肖慧敏陈立山
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共1页<1>
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